基于DDS技術(shù)信號發(fā)生器的研究與設(shè)計(jì).pdf

1、自動(dòng)測試系統(tǒng)（Automatic Test System, ATS）最初僅僅使用在武器裝備儀表系統(tǒng)，目前已廣泛應(yīng)用在航空、艦船等領(lǐng)域，作為ATS中一個(gè)核心模塊——信號發(fā)生器，也隨著 ATS的發(fā)展取得了巨大的進(jìn)步。直接數(shù)字頻率合成（Direct Digital Frequency Synthesis, DDS）作為第三代頻率合成技術(shù)，理所當(dāng)然地被應(yīng)用在ATS這種數(shù)字化測試系統(tǒng)的信號發(fā)生器中。采用DDS技術(shù)的信號發(fā)生器具有分辨率高，頻率切換

2、時(shí)間快，能夠輸出任意波形等優(yōu)點(diǎn)，但全數(shù)字化的DDS技術(shù)也存在兩大缺點(diǎn)：雜散豐富、輸出頻率范圍窄，這兩點(diǎn)缺陷極大的限制了 DDS信號發(fā)生器的進(jìn)一步推廣。
　　本文首先對DDS技術(shù)工作原理，對DDS結(jié)構(gòu)中的4個(gè)主要部分：相位累加器、波形ROM表、數(shù)模轉(zhuǎn)換器、低通濾波器的功能作用進(jìn)行了詳細(xì)論述，并對DDS工作過程中產(chǎn)生雜散的三點(diǎn)原因：相位截?cái)嗾`差、幅值量化誤差、DAC非線性因素進(jìn)行了深入的頻譜分析。針對 DDS雜散理論分析的結(jié)果，采取以

3、下3種雜散抑制技術(shù)：改善相位累加器結(jié)構(gòu)、注入相位擾動(dòng)、波形ROM表壓縮，并對這幾種雜散技術(shù)的理論分析結(jié)果進(jìn)行軟件仿真驗(yàn)證，結(jié)果表明采用這幾種雜散抑制技術(shù)具有較好的效果。
　　文中實(shí)現(xiàn)了3種DDS雜散抑制技術(shù)在硬件電路中的應(yīng)用，選用DSP作主控芯片，DDS結(jié)構(gòu)中的相位累加器、波形 ROM表全部在 DSP中實(shí)現(xiàn)，與常用的波形ROM表在DSP外部的方法相比較，這種方法實(shí)現(xiàn)雜散抑制技術(shù)變得更容易，只需在DSP內(nèi)部程序控制中實(shí)現(xiàn)，而不必在外