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1、電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文鐵電疇的掃描力顯微鏡檢測(cè)方法研究姓名:李松霞申請(qǐng)學(xué)位級(jí)別:碩士專(zhuān)業(yè):材料學(xué)指導(dǎo)教師:包生祥20030101電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文AbstractDomainstructureanditsmovementdeterminethephysicalpropertiesof介rroelectrics.lmcstigationofdomainsisthepreconditiontostudymacroscopicprop
2、ertiesofferroelectrics.Therearemanymethodstoinvestigatedomains.suchaspolarizationmicroscopy.scantingelectronmicroscopytransmissionelectronmicroscopy.scanningelectronacousticmicroscopyandsoon.Howeverthesemethodssufferfrom
3、someseriousdisandvertagesinvolvingcomplexsamplepreparationdamagetosamplelowresolution.SanningForceMicroscopy(SFN4)whichrootsfromatomicforcemicroscopyisageneraldesignationofmicroscopyrelatingtoforcebehavoirtechnology.Beca
4、useofitssimpleoperationhighresolutionwithouttheneedforspecialsamplepreparationSFMispaidgreatatentioninallscientificfields.SFMisaneffectivemethodtostudydomainswithhighresolutionandnondestructivemeasureing.Thispaperstudies
5、theinvestigationmethodsofdoaminusingvoltagemodulatedSFM.DifferentprinciplesandmodesofSFMarediscussed.TheimagingprincipleofpiezoresponseatomicforcemicroscopyscanningnonlineardielectmicroscopyKelvinforcemicroscopyaretheore
6、ticallyanalysedandtheinfluenceofvoltagecontactforceandmicrocantileveronthedomaininvestigationisstudied.Theparametersofinstrumentareoptimizedusingthesamesample.AndtheresultisthatthedomainstructureofPMNPTcanbeachievedsuces
7、sfullyusingDF3RmicrocantileverwhenVac3Vfl=S20kHz.Differentcantileversandelectricfieldsarestudiedrespectivelyinordertoweakenandeveneliminatetheeffectofelectrostaicforce.Theresultsshowthattheinfluenceofelectrostaticcanbedi
8、minishedeffectivelywhenusingcantileverwithhighspringcoefficient.Theworkprovidesnotonlythefoundationofstudyingdomainstructureinferroelectricthinfilmsbutalsothemeansofstudyingfatigueandpolarizationretentioninferroelctric.K
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