厚膜DC-DC電源VDMOS退化機理及工作壽命評估技術(shù).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、廣東工業(yè)大學(xué)碩士學(xué)位論文厚膜DCDC電源VDMOS退化機理及工作壽命評估技術(shù)姓名：陳鏡波申請學(xué)位級別：碩士專業(yè)：微電子學(xué)與固體電子學(xué)指導(dǎo)教師：何小琦20100602廣東工業(yè)大學(xué)碩士學(xué)位論文疲勞失效的主要因素。以塑性應(yīng)變?yōu)榛A(chǔ)，利用CoffinMasson方程預(yù)測了該焊料層的熱疲勞壽命，計算出循環(huán)次數(shù)可達到3087次。另外，當(dāng)焊料層存在空洞時，其最大塑性應(yīng)變值降低了80％左右，對焊料層在熱循環(huán)情況下的使用壽命有提高作用，但不利于芯片的散熱

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