基于LXI的高速數(shù)據(jù)采集儀控制器的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf

1、科學(xué)技術(shù)的發(fā)展離不開測試手段的變革。自動(dòng)測試系統(tǒng) ATS(Automatic Test System)不僅應(yīng)用在航空航天等國防科技領(lǐng)域，而且廣泛滲透到工業(yè)生產(chǎn)、民用測試等領(lǐng)域。LXI規(guī)范的提出，給構(gòu)建自動(dòng)測試系統(tǒng)帶來了巨大的優(yōu)勢。
　　本課題來源于基于 LXI高速數(shù)據(jù)采集儀的項(xiàng)目，文中首先介紹了儀器總線的發(fā)展和LXI標(biāo)準(zhǔn)，然后整體分析了數(shù)據(jù)采集儀的整體設(shè)計(jì)方案，針對LXI系統(tǒng)控制器的硬件設(shè)計(jì)給出了詳細(xì)的方案，同時(shí)實(shí)現(xiàn)了Vxwork

2、s開發(fā)環(huán)境的搭建，完成了設(shè)計(jì)要求。本論文主要包括以下幾個(gè)方面：
　　1.高速數(shù)據(jù)采集儀的整體設(shè)計(jì)方案。針對設(shè)計(jì)要求，在整體上分析了數(shù)據(jù)采集儀的整體設(shè)計(jì)架構(gòu)，并詳細(xì)分析了LXI系統(tǒng)控制器的設(shè)計(jì)方案，并針對重要器件進(jìn)行了選型工作。
　　2. LXI系統(tǒng)控制器的硬件設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)。針對LXI系統(tǒng)控制器的實(shí)現(xiàn)方案，詳細(xì)介紹了電源部分、PROM、FLASH、DDR SDRAM的電路設(shè)計(jì)。本章重點(diǎn)討論了系統(tǒng)控制器關(guān)鍵部分—千兆網(wǎng)絡(luò)的設(shè)計(jì)，分析

3、了OSI網(wǎng)絡(luò)體系結(jié)構(gòu)和設(shè)計(jì)方案，并根據(jù)PHY芯片的選型詳細(xì)介紹了具體電路的設(shè)計(jì)。
　　3. FPGA關(guān)鍵軟件的設(shè)計(jì)。詳細(xì)分析了高速自定義接口的設(shè)計(jì)方案，并結(jié)合自身數(shù)據(jù)采集板的要求，利用Create or Import Peripheral工具一步步實(shí)現(xiàn)接口的各項(xiàng)時(shí)序功能。同時(shí)在EDK中設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了整個(gè)系統(tǒng)控制器的整個(gè)架構(gòu)，并配置整個(gè)FPGA上電正常工作。
　　4.信號完整性的問題。分析了影響信號完整的因素，并針對各種因素提出了