Al-Si合金Al2O3-ZrO2微弧氧化層生長及性能研究.pdf_第1頁
已閱讀1頁,還剩81頁未讀, 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進行舉報或認領(lǐng)

文檔簡介

1、本文針對單一Al2O3微弧氧化層不能滿足Al-Si合金使用要求的問題,本文采用微弧氧化法在Al-Si合金表面制備了Al2O3-ZrO2復合膜層。通過單因素變量法研究了不同電解液體系、電參數(shù)對膜層厚度和隔熱性的影響,通過SEM、XRD分析測試手段研究了膜層的微觀組織形貌、生長過程,并且采用拉伸試驗機、摩擦磨損試驗機、隔熱測試裝置研究了陶瓷層的結(jié)合強度、耐磨性、及隔熱性等。結(jié)果表明:電解液由K2ZrF6和KOH組成,最佳濃度為K2ZrF64

2、g/L,KOH4g/L,反應中膜層的厚度和隔熱性隨電解液濃度的增大呈先升后降的趨勢;具體工藝參數(shù)的最適值為:電流密度10A/dm2,頻率300Hz,正脈沖個數(shù)15,占空比30%,電解液溫度70℃,反應時間30min;膜層的生長分為勻速生長階段和緩慢生長階段,生長速率分別為2.5μm/min和1μm/min,反應初期膜層增厚主要靠向外生長,后期靠向內(nèi)生長,膜層向外生長形成疏松層,向內(nèi)生長生成致密層,向內(nèi)生長速度決定了膜層總厚度的生長速率;

3、膜層的微觀表面形貌隨氧化時間的延長呈現(xiàn)不同特征,最初期為“團狀”,后變成“小凸起狀”,當反應時間為30min時,呈“火山噴射狀”,若氧化時間進一步延長,則形成“疏松巖石狀”表面形貌;膜層的截面形貌由內(nèi)到外分為過渡層、致密層和疏松層,致密層是膜層的主體,占氧化層總厚度的60~70%,過渡層與基體成冶金結(jié)合;膜層的主要相組成是t-ZrO2、α-Al2O3、m-ZrO2、γ-Al2O3,t-ZrO2為膜層的主晶相,其中m-ZrO2含量少,而t

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預覽,若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論