手機(jī)通訊原理與測(cè)試.pdf

1、一般來(lái)說(shuō)測(cè)量和調(diào)整發(fā)射功率影響最大的是線(xiàn)路衰減，大部分測(cè)試工程師的工作就是檢測(cè)線(xiàn)路衰減的準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。通常線(xiàn)路衰減指的是：在測(cè)試單元射頻輸出到自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備之間的射頻電纜、射頻開(kāi)關(guān)和射頻連接器的所有損耗。因此，射頻衰減在自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備到測(cè)試單元之間的功率測(cè)量結(jié)果為：
　　 測(cè)試單元射頻輸出功率（dBm）=自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備功率（dBm）+線(xiàn)路衰減（dB）
　　 然而，測(cè)量測(cè)試單元的射頻輸出功率是不能像公式寫(xiě)的那樣很精準(zhǔn)的去測(cè)量。

2、在現(xiàn)實(shí)中，可能會(huì)出現(xiàn)許多不正確或不相干的信號(hào)源的干擾從而引起在測(cè)量時(shí)發(fā)生偏差。測(cè)量的偏差和如何減少它們的影響我將會(huì)在我的論文中描述。在此我想說(shuō)的在測(cè)量中的一個(gè)不確定因素就是自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備它自己，依據(jù)實(shí)驗(yàn)的結(jié)果它一般會(huì)產(chǎn)生+/-0.5 dB的偏差。為了減小測(cè)試單元的射頻輸出功率的測(cè)量偏差，Cal-Cart在測(cè)量時(shí)包含了這個(gè)自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備的設(shè)備損耗（參考一個(gè)電源表）作為一部分線(xiàn)路衰減的參考值。因此這個(gè)Cal-Cart的線(xiàn)路衰耗定義就是：

3、r>　　 Cal-Cart的線(xiàn)路衰耗（或指線(xiàn)路衰耗）是在測(cè)試單元和自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備之間的設(shè)備的正負(fù)絕對(duì)值的誤差。（可以在其中串聯(lián)的一個(gè)電源表來(lái)測(cè)量）
　　 雖然把自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備的誤差算到了線(xiàn)路衰減中是很重要的，但關(guān)鍵的Cal-cart的準(zhǔn)確性是靠電源分離器。這個(gè)電源分離器會(huì)連接在一個(gè)已較準(zhǔn)過(guò)的電源，然后再參考之前所提到的電源表，來(lái)測(cè)量整個(gè)線(xiàn)路的衰減。
　　 在某些情況下它是被要求絕對(duì)精準(zhǔn)的測(cè)量出來(lái)，例如在實(shí)驗(yàn)室中。但是在

4、我們的生產(chǎn)線(xiàn)和普通環(huán)境下，環(huán)境因素就不可能那么精確的測(cè)量出來(lái)。的確，在不確定的設(shè)備中測(cè)試數(shù)據(jù)只要其絕對(duì)數(shù)據(jù)誤差小于+/-0.2 dB并且這個(gè)趨勢(shì)一直保持我們就是可接受的。雖然很難去達(dá)成如此高的精度，但它可以依照如下方式來(lái)做：
　　 ·Cal-Cart測(cè)量自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備的線(xiàn)路衰減，并依照GageR&R的固定時(shí)間表來(lái)描繪射頻衰減的狀況。我們通過(guò)研究它就能找到衰減的具體情況了。
　　 ·保持測(cè)試車(chē)測(cè)試時(shí)的室溫穩(wěn)定。用于測(cè)量的儀

5、器是對(duì)溫度非常敏感的。（測(cè)試設(shè)備有：VSA，Momentum，CMU200，等等測(cè)試設(shè)備）
　　 ·確保在測(cè)試臺(tái)中測(cè)試的手機(jī)射頻接口有至少20dB的衰減反饋。請(qǐng)注意，射頻耦合器和一些觸針等組成的射頻接口是不能校準(zhǔn)的，因?yàn)樗麄儾皇菍?shí)際用于測(cè)試的測(cè)試臺(tái)接口。我們可以用FinalUI的射頻接口和信號(hào)功率控制器（CMU2000，8960）等設(shè)置一個(gè)相關(guān)的衰減補(bǔ)償。因此，F(xiàn)lali的線(xiàn)路衰耗測(cè)量就顯得尤為重要了。只要能測(cè)量好它就能保證手機(jī)

6、后面的射頻測(cè)試。
　　 接下來(lái)，我將介紹一下相關(guān)測(cè)試所用的測(cè)試臺(tái)。一般在生產(chǎn)中測(cè)試臺(tái)分三大類(lèi)，接下來(lái)我將逐一介紹：
　　 Flali（Flash and alignment）測(cè)試臺(tái)用于刷新開(kāi)機(jī)程序，精細(xì)的檢測(cè)射頻回路并且調(diào)整一些基帶測(cè)試值。生產(chǎn)時(shí)，會(huì)有操作員或機(jī)械手來(lái)完成主板的拿取，在測(cè)試臺(tái)內(nèi)部會(huì)有兩個(gè)卡具分為上卡具和下卡具分別咬合來(lái)固定主板，并且連接好測(cè)試點(diǎn)。
　　 FU（Final and UI）測(cè)試臺(tái)用于測(cè)

7、試組裝好的手機(jī)。它將檢查手機(jī)的用戶(hù)界面，例如鍵盤(pán)，顯示屏，攝像頭，和音頻系統(tǒng)（MIC&EAR）。射頻的測(cè)試將會(huì)用耦合或檢測(cè)點(diǎn)的方式來(lái)檢查，射頻方面僅對(duì)呼叫做測(cè)試，所有關(guān)于信號(hào)及波形的調(diào)整應(yīng)該在FLALI測(cè)試臺(tái)做。
　　 LABEL測(cè)試臺(tái)用于選擇不同的語(yǔ)言包（程序其實(shí)已經(jīng)在FLALI或Panel Flash灌好了）IMEI程序和標(biāo)簽打印。LABEL可以做許多種測(cè)試，但一般絕大部分的測(cè)試應(yīng)該已經(jīng)在之前的測(cè)試階段就做好了。
　　

8、 由于日新月異的手機(jī)發(fā)展，導(dǎo)致需要測(cè)試的項(xiàng)目越來(lái)越多。怎么能讓上面介紹的設(shè)備在最短的時(shí)間內(nèi)完成手機(jī)的全部測(cè)試就是我們需要研究的課題。應(yīng)該說(shuō)，以前的技術(shù)已經(jīng)不能很好的完成短時(shí)間測(cè)試，我們必須要找到一個(gè)新的方法。非信令測(cè)試就是在這種情況下應(yīng)運(yùn)而生的，它取代了以往每測(cè)試一項(xiàng)信號(hào)，需要建立連接，傳輸指令到測(cè)試臺(tái)的老方法，取而代之的是通過(guò)信令集成一束同一發(fā)給測(cè)試臺(tái)，同個(gè)軟件及測(cè)試臺(tái)公共完成整體測(cè)試。這樣更簡(jiǎn)單、快捷、高效地完成了整部手機(jī)的測(cè)試，