應(yīng)變對鐵電薄膜漏電流特性影響.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、鐵電存儲器由于其具有非易失性、抗輻射性、高可靠性等優(yōu)點而可以廣泛應(yīng)用到軍事和生活的各個領(lǐng)域,但是它還存在著很多的缺點。失效是鐵電存儲器實現(xiàn)廣泛應(yīng)用的一個重要絆腳石。鐵電存儲器的失效包含著疲勞、印記和保持,而漏電流是與這三個失效方式都相關(guān)聯(lián)的一個重要因素,所以研究如何調(diào)節(jié)漏電流的大小是我們阻礙鐵電存儲器失效的一個重要方式,因此本文以鐵電電容的漏電流為研究對象,從理論上尋找減小漏電流的方法,希望能為減小漏電流提供一些指導意見。主要研究內(nèi)容如

2、下:
  (1)基于空間電荷限制電流的基本模型,我們通過泊松方程可以找到電流同介電常數(shù)的關(guān)系。同時,介電常數(shù)又可以通過極化對電場的偏導求得。這樣我們最終可以建立極化和漏電流的關(guān)系。我們選取的極化方程是Hang-Ting Lue中的極化方程。在此極化方程中,應(yīng)變、溫度、應(yīng)力和頻率會對電滯回線的矯頑場有影響,通過該極化方程,這些因素肯定會對極化值產(chǎn)生影響,最終通過建立的極化同漏電流的關(guān)系得到應(yīng)變、溫度、應(yīng)力和頻率對漏電流的影響。所以我

3、們最終可以得到影響漏電流的因素以及它們與漏電流和應(yīng)變之間的關(guān)系。
  (2)在影響漏電流的因素中,應(yīng)變和溫度對漏電流的影響較大,把這兩個因素結(jié)合起來,結(jié)合空間電荷限制電流模型,研究在生長在立方基底上的單晶單疇鐵電薄膜,這種薄膜只有極化值P3,201PP時,根據(jù)漏電流同極化值和介電常數(shù)之間的關(guān)系,我們得到了電流隨應(yīng)變和溫度變化的分布圖。正負電場下,鐵電薄膜的極化值分別對應(yīng)著鐵電存儲器的兩種存儲狀態(tài),我們研究了在正電場下,漏電流隨著壓

4、應(yīng)變的增大而減小,負電場下,電流趨勢相反,考慮退極化場時,漏電流壓應(yīng)變的增大而增大。
  (3)在實際生長的鐵電薄膜中,大多數(shù)都是P1、P2和P3都存在的情況,而且不同的極化值對應(yīng)不同的相。所以我們結(jié)合應(yīng)變和溫度兩個因素研究在不同相下,漏電流隨應(yīng)變和溫度變化分布圖。研究了分別在退極化場、正電場和負電場情況下,漏電流的分布圖。并得到在這三種電場情況下,極化值和介電常數(shù)隨應(yīng)變和溫度變化的分布圖,也得到在不同相下介電常數(shù)和極化值的分部。

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