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文檔簡介
1、光電子器件的發(fā)展與應(yīng)用推動著光通信系統(tǒng)的進步.SOI(Silicon-on-insulator)光波導(dǎo)技術(shù)同時具有優(yōu)異的電學(xué)和光學(xué)性能,并且與成熟的硅基CMOS工藝完全兼容,是發(fā)展低成本的光子集成回路的重要趨勢之一.光耦合器和可調(diào)式光衰減器都是密集波分復(fù)用(DWDM)光通信系統(tǒng)中必不可少的關(guān)鍵器件.該文圍繞基于大截面SOI單模脊形光波導(dǎo)結(jié)構(gòu)的彎曲波導(dǎo)、光耦合器和電光可調(diào)式光衰減器展開研制工作.SOI光波導(dǎo)采用脊形波導(dǎo)結(jié)構(gòu)可以實現(xiàn)大截面尺
2、寸的單模傳輸.采用有效折射率方法分析了SOI脊形光波導(dǎo)的模式特性,得到了與已報道的實驗結(jié)果相吻合的單模條件.利用有限差分方法,獲得了SOI脊形光波導(dǎo)和標準單模光纖之間模場失配損耗與波導(dǎo)幾何結(jié)構(gòu)參數(shù)的關(guān)系,為優(yōu)化波導(dǎo)結(jié)構(gòu)參數(shù),最大限度地減少耦合損耗提供理論依據(jù).在光子集成回路中,實現(xiàn)傳輸光場方向改變的波導(dǎo)彎曲是不可避免的.利用有限差分法光束傳播法(FD-BPM)分析了曲線型SOI脊形彎曲波導(dǎo)和S型SOI脊形彎曲波導(dǎo)的損耗特性.利用時域有限
3、差分方法(FDTD)分析了大截面的全內(nèi)反射型90°SOI脊形彎曲波導(dǎo)的器件結(jié)構(gòu)參數(shù)對器件性能的影響,為制備低損耗的彎曲波導(dǎo)提供了理論依據(jù).利用硅反應(yīng)離子刻蝕工藝實驗制作了損耗為0.52dB的全內(nèi)反射型90°SOI脊形彎曲波導(dǎo).利用FD-BPM方法模擬分析了Y分支SOI波導(dǎo)耦合器和1×2對稱干涉SOI多模干涉耦合器的光場傳輸特性,分析了它們的波長帶寬和制作容差性.在SIMOX SOI晶片上,實驗制作了這兩種集成光波導(dǎo)耦合器,得到比較均衡的
4、功率輸出.利用FDTD方法系統(tǒng)地模擬分析了大截面的T分支SOI波導(dǎo)結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)參數(shù)、光場傳輸特性和器件性能.T分支SOI波導(dǎo)耦合器具有較寬的波長帶寬,制作容差性好,而且器件尺寸小,容易實現(xiàn)大的輸出間距.在SIMOX SOI晶片上實驗實現(xiàn)了相應(yīng)器件,耦合器的平均附加損耗EL為1.61dB,輸出不均衡度UF小于0.63dB.采用常規(guī)硅CMOS工藝設(shè)計并制備了4×4 SOI基電光可調(diào)式光衰減器的原型器件.光衰減器通過注入載流子的吸收實現(xiàn)對傳輸光
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