正電子壽命譜儀探頭結(jié)構(gòu)的研究以及粒子描跡儀中陰極適應(yīng)多絲室電荷靈敏放大器的研制.pdf

1、該論文工作包括兩個部分,第一部分為正電子湮滅壽命譜儀探頭結(jié)構(gòu)的研究,第二部分為北京正負(fù)電子對撞機(jī)(BEPC)中粒子描跡儀系統(tǒng)中電荷靈敏放大器及的研究.一、正電子湮滅壽命譜儀探頭結(jié)構(gòu)的研究.目前,正電子湮滅壽命譜方法已應(yīng)用于金屬材料結(jié)構(gòu)分析及金屬疲勞探測等領(lǐng)域的研究中.但是由于正電子壽命譜儀探頭得結(jié)構(gòu)特點,限制了它在實際中對金屬物件內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)及疲勞程度的探查應(yīng)用.為此我們對正電子湮滅壽命譜儀探頭結(jié)構(gòu)做了初步的改進(jìn)及研究.該文介紹正電子壽

2、命譜儀的原理、結(jié)構(gòu)、數(shù)據(jù)分析以及在測量中的一些問題;提出對正電子湮滅壽命譜儀結(jié)構(gòu)的改進(jìn)方案:一、單探頭結(jié)構(gòu)的設(shè)想,通過調(diào)研分析認(rèn)為在現(xiàn)有的條件下單探頭結(jié)構(gòu)是不可行的;二、改進(jìn)雙探頭的位置結(jié)構(gòu)的設(shè)想,對這種結(jié)構(gòu)進(jìn)行了初步的分析討論,并在此基礎(chǔ)上進(jìn)行實驗研究.得知雙探頭改進(jìn)結(jié)構(gòu)可行性及條件.二、粒子描跡儀系統(tǒng)讀出放大器的研制.描跡儀探測器用來探測高能粒子飛行中的軌跡.其結(jié)構(gòu)為三個并行排列的多絲正比室,當(dāng)有粒子穿過絲室時,三個絲室則給出粒子擊