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1、該文主要論述了MSP430單片機在形狀記憶合金相變點測試中的應(yīng)用,實現(xiàn)了一個以MSP430F149為核心的形狀記憶合金相變點測試系統(tǒng)的研制.首先介紹了形狀記憶效應(yīng)基本原理及形狀記憶合金相變點常用的測量方法,提出應(yīng)用單片機技術(shù)從硬件和軟件兩方面著手解決電阻法測量時常出現(xiàn)的問題.介紹了單片機應(yīng)用系統(tǒng)的設(shè)計原則和MSP430芯片的發(fā)展、特點以及在各個領(lǐng)域中的廣泛應(yīng)用,并說明了選擇TI公司MSP430F149作為該系統(tǒng)的核心微處理器芯片.接著詳
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