基于One-test-at-a-time策略的組合測(cè)試用例生成技術(shù).pdf

1、在軟件測(cè)試中，測(cè)試用例的目的是使程序失敗，揭示盡量多的缺陷。一個(gè)成功的測(cè)試是發(fā)現(xiàn)了至今未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤的測(cè)試。因此使用盡量少的測(cè)試用例檢測(cè)更多的錯(cuò)誤是軟件測(cè)試的重要問(wèn)題。而組合測(cè)試正是解決上述問(wèn)題的高效的軟件測(cè)試方法。組合測(cè)試用例生成問(wèn)題是組合測(cè)試研究的一個(gè)重點(diǎn)。多年來(lái)，人們對(duì)組合測(cè)試用例生成進(jìn)行了廣泛而深入的研究，已取得大量成果。在一些關(guān)鍵應(yīng)用領(lǐng)域，常用的兩兩組合測(cè)試往往難以滿足可靠性方面的要求，可能需要進(jìn)行更高強(qiáng)度的N（N>2）維組合測(cè)

2、試。 本文對(duì)現(xiàn)有的組合測(cè)試用例生成技術(shù)及組合測(cè)試策略進(jìn)行了深入的研究。主要研究工作包括：在one-test-at-a-time策略的基礎(chǔ)上，對(duì)已有的密度算法、解空間樹(shù)算法進(jìn)行擴(kuò)展，提出兩種N維組合測(cè)試用例生成算法。 論文工作的主要成果表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面： ·本文在one-test-at-a-time策略的基礎(chǔ)上，對(duì)已有的密度算法進(jìn)行擴(kuò)展，提出一種基于密度的N維組合測(cè)試用例生成算法。實(shí)驗(yàn)表明，該算法可以生成規(guī)模較小