液晶模塊的壽命試驗(yàn)和可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn).pdf

1、隨著液晶模塊制造技術(shù)的日益成熟，液晶顯示器、液晶電視在人們生活中的使用越加廣泛。與此同時(shí)，對(duì)液晶產(chǎn)品中最主要的構(gòu)成部分液晶模塊的壽命和可靠性要求被更加突出地體現(xiàn)出來，測(cè)量和提高液晶模塊的壽命和可靠性是本文的主題。
　　 1.本文首先介紹了文章中涉及到的液晶模塊結(jié)構(gòu)、材料、工藝方面的知識(shí)。之后用高溫壽命試驗(yàn)方法結(jié)合威布爾分布知識(shí)得到某型號(hào)液晶模塊的威布爾分布即不可靠度F（t）隨時(shí)間的推移公式及不可靠度F（t）的概率密度函數(shù)f（t）

2、，從而較準(zhǔn)確地求得該產(chǎn)品平均壽命、某時(shí)間點(diǎn)產(chǎn)品的可靠度等產(chǎn)品相關(guān)信息。
　　 2.得到液晶模塊的壽命相關(guān)信息后，本文針對(duì)液晶產(chǎn)品的特點(diǎn)，通過進(jìn)行可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)HALT 中的溫度應(yīng)力、振動(dòng)應(yīng)力、組合應(yīng)力試驗(yàn)暴露出該產(chǎn)品的可靠性潛在弱點(diǎn)，加以深入分析后提出改進(jìn)方法并付諸實(shí)踐，提高了該液晶模塊的可靠性。
　　 本文中的試驗(yàn)方法具有普遍性，適用于絕大多數(shù)的液晶模塊。高溫壽命試驗(yàn)的優(yōu)點(diǎn)是可以準(zhǔn)確地得到失效時(shí)間，缺點(diǎn)是試驗(yàn)時(shí)間長(zhǎng)；H