航天繼電器可靠性壽命試驗(yàn)分析系統(tǒng)的研究.pdf

1、航天繼電器具有靈敏度高、功耗低等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于航空航天及國(guó)防工業(yè)的各個(gè)領(lǐng)域。航天繼電器可靠性電壽命試驗(yàn)是可靠性試驗(yàn)的重要環(huán)節(jié)，是獲取產(chǎn)品電壽命指標(biāo)和評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性高低的重要手段。對(duì)于可靠性要求較高的航天繼電器而言，有必要深入研究可靠性壽命試驗(yàn)過(guò)程的每個(gè)環(huán)節(jié)。
　　現(xiàn)有的航天繼電器可靠性壽命試驗(yàn)在試驗(yàn)過(guò)程中只連續(xù)監(jiān)測(cè)觸點(diǎn)壓降是否超限，并定期人工檢測(cè)接觸電阻等參數(shù)是否正常，以此作為繼電器的失效判據(jù)。試驗(yàn)結(jié)束后，通常采用人工圖估計(jì)法對(duì)

2、試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行失效分析處理，以獲得可靠性指標(biāo)。上述試驗(yàn)過(guò)程需人工參與，自動(dòng)化程度不高，受主觀因素影響大。同時(shí)，試驗(yàn)過(guò)程中監(jiān)測(cè)參數(shù)少，無(wú)法定量評(píng)價(jià)接觸特性的退化過(guò)程，甚至還會(huì)漏判一些突發(fā)失效，從而影響可靠性指標(biāo)的準(zhǔn)確度。因此研究多參數(shù)監(jiān)測(cè)的航天繼電器可靠性壽命試驗(yàn)方法，設(shè)計(jì)自動(dòng)化程度高的可靠性壽命試驗(yàn)系統(tǒng)，改進(jìn)壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)的失效分析技術(shù)，對(duì)科學(xué)、準(zhǔn)確地評(píng)價(jià)航天繼電器可靠性具有重要的實(shí)際意義。
　　本文綜合國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀，在研究繼電器各

3、種失效機(jī)理的基礎(chǔ)上，提出一種實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)接觸電阻、超程時(shí)間、彈跳時(shí)間等多個(gè)特性參數(shù)的航天繼電器可靠性壽命試驗(yàn)方法，并提出航天繼電器可靠性壽命試驗(yàn)分析系統(tǒng)的技術(shù)指標(biāo)和總體設(shè)計(jì)方案。
　　該系統(tǒng)綜合利用ARM計(jì)算分析功能強(qiáng)和FPGA邏輯控制靈活性高的特點(diǎn)，完成了特性參數(shù)采集、計(jì)算和分析功能模塊的硬件和軟件設(shè)計(jì)。系統(tǒng)采用集散式控制結(jié)構(gòu)，可同時(shí)管理多個(gè)樣品的試驗(yàn)進(jìn)程，通過(guò) CAN總線可靈活變更樣品的測(cè)試數(shù)量；采用達(dá)林頓推挽技術(shù)設(shè)計(jì)了線圈驅(qū)動(dòng)電