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文檔簡介
1、PDP,即等離子顯示板,是一種利用稀有氣體放電(形成等離子體)產(chǎn)生紫外線,激發(fā)涂覆在顯示單元內(nèi)的熒光粉發(fā)光來進行顯示的技術(shù)。它具有視角寬,刷新速度快,光效及亮度高,易于制作大屏幕,工作溫度范圍寬,無掃描線掃描,圖像清晰穩(wěn)定無閃爍,輻射小等很多優(yōu)良特性,是當前主流的平面顯示技術(shù)之一。它采用等離子管作為發(fā)光元件,通過在管子兩端的電極上加入電壓,使放電空間內(nèi)的混合惰性氣體電離成電漿狀態(tài),同時發(fā)生等離子體放電的現(xiàn)象。氣體等離子體放電產(chǎn)生紫外線,
2、紫外線激發(fā)熒光屏,熒光屏發(fā)射出可見光,顯現(xiàn)出圖像。因此PDP電極的電氣性能及其通斷情況是影響PDP的圖像顯示效果的一個重要因素。
然而PDP電極的制作材料,工藝制程都較為復雜。以當前業(yè)界常用的三電極表面放電型為例,其電極主要分為透明電極(ITO電極)、匯流電極(BUS電極)和地址電極(ADD電極)。三種電極的物理性質(zhì),尺寸結(jié)構(gòu)都有所不同,在生產(chǎn)過程中由于受原材料、生產(chǎn)設(shè)備、工藝水平和生產(chǎn)環(huán)境等因素的影響,會不可避免的出現(xiàn)各
3、種各樣的缺陷,造成人力、物力資源的浪費。并且隨著PDP顯示技術(shù)的發(fā)展,PDP電極的寬度和間距越來越細密,增大了這些缺陷產(chǎn)生的幾率,而在PDP電極缺陷中,斷路和短路缺陷是最為常見,發(fā)生概率最高,造成質(zhì)量影響最大的缺陷之一,因此對PDP電極的通斷進行快速準確的檢測顯得尤為重要。
當前PDP電極通斷檢測的主要手段有人眼目視檢測,探針接觸式檢測,渦流檢測,計算機光學檢測,X射線檢測,渦流檢測,電容耦合非接觸測試等方法,各種方法各有
4、優(yōu)劣。選擇合適的檢測方法,對PDP電極通斷情況進行快速準確的檢測有著重要的意義。
本文從PDP的制造工藝出發(fā),對PDP的結(jié)構(gòu),電氣性能,PDP電極的制程以及在生產(chǎn)制造中有可能產(chǎn)生的電極缺陷做了介紹,并分析了缺陷產(chǎn)生的因為。通過以上分析,根據(jù)當前PDP電極通斷檢測的各種方法及測試原理,針對ITO,ADD,BUS電極的不同工藝和PDP玻璃基板本身怕壓,易受損傷、污染的特性,選用探針接觸式測試和電容耦合非接觸測試對PDP電極進行
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