電連接器環(huán)境應力可靠性試驗統(tǒng)計分析.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、雖然人們對電子產品可靠性的要求越來越高，而企業(yè)又不可能僅為追求高的可靠性，而忽視成本的考慮。執(zhí)行可靠性試驗需要大量的人力物力以及資金的投入，全因素試驗設計固然能近乎完美的完成，但不僅會浪費大量的資金，而且在時間上也會來不及。影響電連接器可靠性的因素有很多，限于時間和資金的限制，又不可能全部都執(zhí)行，那么如何設計可靠性試驗方案以及如何實施可靠性試驗就顯得尤為重要。
　　 本文以公司重點產品DOUBLE DATA RAM(DDR)電連

2、接器在A客戶處發(fā)生的異常而引出可靠性問題為契機，從幾個方面進行了深入的解析：分析了電連接器的幾個主要失效模式，并建立了魚骨圖和故障樹；確定接觸失效是電連接器的主要失效模式，對在三個應力作用下的接觸失效機理分別進行了探討，并建立了可靠性模型；提出并研究了電連接器在環(huán)境溫度、濕度和振動應力綜合作用下的加速壽命試驗方案的優(yōu)化設計模型；應用均勻設計理論對環(huán)境溫-濕度和振動應力的應力水平值進行合理搭配，得到一組較優(yōu)的加速壽命試驗方案；執(zhí)行試驗方案

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