雷達(dá)罩插入相位延遲（IPD）測(cè)試儀中相位測(cè)試技術(shù)研究.pdf

1、在雷達(dá)罩的電性能中，罩壁的插入相位延遲(即IPD——Insertion PhaseDelay)是一項(xiàng)非常重要的參數(shù)。由于罩壁引入的IPD變化會(huì)導(dǎo)致天線增益的損失、波束寬度變化、波束偏轉(zhuǎn)及副瓣抬高，從而嚴(yán)重影響雷達(dá)的性能。隨著科技的不斷發(fā)展，對(duì)雷達(dá)罩的要求越來(lái)越高，傳統(tǒng)的生產(chǎn)方式已不能適應(yīng)新的需求。為了改進(jìn)生產(chǎn)方式，提高產(chǎn)品質(zhì)量及成品率，縮短生產(chǎn)周期，在雷達(dá)罩的生產(chǎn)線上急需配套IPD測(cè)試設(shè)備。 本文針對(duì)雷達(dá)罩IPD測(cè)試中的關(guān)鍵技術(shù)

2、一相位測(cè)試技術(shù)展開(kāi)了廣泛而深入的討論。在分析典型的相位一時(shí)間間隔轉(zhuǎn)換測(cè)量法的基礎(chǔ)上，提出了一種新的相位測(cè)試實(shí)現(xiàn)方法一離散傅立葉變換法。研究了其基本測(cè)試原理，分析了中頻測(cè)試信號(hào)的相位測(cè)試不確定度與噪聲總能量、采樣點(diǎn)數(shù)和中頻測(cè)試信號(hào)的幅度的關(guān)系。得出了中頻測(cè)試信號(hào)的相位測(cè)試不確定度與噪聲總能量成正比，與采樣點(diǎn)數(shù)、中頻測(cè)試信號(hào)的能量成反比的結(jié)論。并且分析得出增加采樣點(diǎn)數(shù)等效為對(duì)測(cè)試源相位噪聲和中頻測(cè)試信號(hào)信噪比的改善，可以降低對(duì)前端測(cè)試源及其