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文檔簡介
1、多芯片組件(MCM)的布線密度較PCB高,工藝較系統(tǒng)芯片(SOC)簡單,是有發(fā)展前途的封裝方式之一。隨著尺寸的減小、規(guī)模的擴大和頻率的提高,互連傳輸線效應成為限制MCM性能的“瓶頸”。傳統(tǒng)集總的參數(shù)提取方法逐步失去準確性,因此對互連及封裝結構進行電磁建模和信號完整性分析在高速MCM設計中具有重要意義。 本文以高速MCM基板設計及其封裝為研究對象,開展了其電磁建模、參數(shù)提取及信號完整性分析。 1.在闡述傳輸線原理的基礎上,
2、詳細分析了高速MCM設計中的信號完整性問題,包括反射、串擾、同步開關噪聲等。 2.具體闡述對MCM基板中常用的綁定線、傳輸線和過孔等組件進行電磁建模與高頻仿真,通過比較參數(shù)化的仿真結果(回波損耗、插入損耗及串擾等散射參數(shù)),優(yōu)化MCM的布線設計。 3.利用HSPICE軟件分析MCM信號通道對高速信號的瞬態(tài)影響。主要討論:1)阻抗不匹配造成信號反射;2)由寄生電感而引起的電壓跳動,即同步開關噪聲:3)鄰近導線間信號耦合效應
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