高分辨率A-D靜態(tài)參數(shù)測(cè)試電路設(shè)計(jì).pdf

1、高分辨率A/D靜態(tài)參數(shù)測(cè)試電路設(shè)計(jì)是針對(duì)工作實(shí)際中A/D靜態(tài)參數(shù)測(cè)試遇到的困難而提出的。目前，國(guó)內(nèi)大多數(shù)A/D靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是利用傳統(tǒng)的外掛信號(hào)源與數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)集成而成。在測(cè)試時(shí)由外掛信號(hào)源提供模擬信號(hào)，由數(shù)字系統(tǒng)提供被測(cè)A/D的數(shù)字激勵(lì)并捕獲被測(cè)A/D產(chǎn)生的數(shù)字量，再對(duì)數(shù)字量進(jìn)行算法處理得出測(cè)試結(jié)果。在測(cè)試高分辨率的A/D時(shí)，這就帶來(lái)了一些問(wèn)題：首先測(cè)試高分辨率A/D時(shí)模擬輸入信號(hào)的步進(jìn)非常小，由于信號(hào)源是外掛的，將模擬輸入

2、信號(hào)從信號(hào)源傳遞給被測(cè)A/D的信號(hào)線就較長(zhǎng)，由信號(hào)線產(chǎn)生的噪聲及由線阻產(chǎn)生的電壓損耗很可能比模擬輸入信號(hào)的步進(jìn)還要大，這將極大影響測(cè)試。其次模擬信號(hào)提供的最大值應(yīng)與被測(cè)A/D的參考電壓值相等，但由于這兩個(gè)值并不是同源的，必定存在一定的差值，這個(gè)差值將對(duì)測(cè)試帶來(lái)誤差。 根據(jù)A/D靜態(tài)參數(shù)的直方圖測(cè)試，設(shè)計(jì)了一種高分辨率A/D靜態(tài)參數(shù)測(cè)試電路，該測(cè)試電路可以測(cè)量高分辨率A/D靜態(tài)參數(shù)，測(cè)試所需的模擬信號(hào)，具體由一很高位的D/A產(chǎn)生。

3、由于測(cè)試電路尺寸很小，可直接與數(shù)字系統(tǒng)的適配器相連，從而大大縮短了模擬信號(hào)到被測(cè)A/D的傳輸距離，減小了信號(hào)線產(chǎn)生的噪聲及由線阻產(chǎn)生的電壓損耗。由于采用同一可控精密電源對(duì)測(cè)試電路中的高位D/A和被測(cè)A/D提供參考電壓，從而大大減小了由最大模擬輸入信號(hào)與被測(cè)A/D的參考電壓值不等而引起的誤差。 該測(cè)試電路在測(cè)試高分辨率A/D靜態(tài)參數(shù)時(shí)，無(wú)需購(gòu)置外掛信號(hào)源，大大降低了測(cè)試高分辨率A/D靜態(tài)參數(shù)的系統(tǒng)構(gòu)成成本，同時(shí)解決了傳統(tǒng)測(cè)試方法無(wú)