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1、本文對(duì)一種轉(zhuǎn)換速率為30Msample/s(MSPS)、分辨率為14位的流水線型A/D轉(zhuǎn)換器的子電路進(jìn)行低功耗設(shè)計(jì)和仿真。 首先,分析比較各種A/D轉(zhuǎn)換結(jié)構(gòu)的性能特點(diǎn),選擇采用在高速、高分辨率和低功耗等性能指標(biāo)之間達(dá)到良好折衷的流水線結(jié)構(gòu)來(lái)進(jìn)行設(shè)計(jì)。接著分析流水線電路的工作原理和特點(diǎn),選擇采用1.5位的最優(yōu)的每級(jí)分辨率。然后詳細(xì)分析了影響ADC性能指標(biāo)的多種非理想因素,并指出消除或減少這些非理想因素影響的各種技術(shù),其中詳細(xì)介紹了
2、兩種誤差消除技術(shù):下極板采樣技術(shù)和數(shù)字校正技術(shù)。最后,在理論分析的基礎(chǔ)上采用0.6μm的CMOS工藝與器件模型來(lái)設(shè)計(jì)該流水線A/D轉(zhuǎn)換器的具體電路,并采用全定制版圖設(shè)計(jì)方法完成了主要電路模塊的版圖設(shè)計(jì)。仿真結(jié)果表明,設(shè)計(jì)完成的子電路性能基本符合設(shè)計(jì)要求。 本論文的創(chuàng)新之處在于: 1、采用自頂向下的設(shè)計(jì)方法設(shè)計(jì)流水線A/D電路,完成了各個(gè)子電路模塊的設(shè)計(jì)仿真; 2、采用了一種使用增益提高技術(shù)的套筒式共源共柵運(yùn)算放大
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