2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、隨著集成電路工藝與技術(shù)的飛速發(fā)展,集成電路己經(jīng)進(jìn)入系統(tǒng)級(jí)芯片(SOC)階段。高速、低功耗A/D轉(zhuǎn)換器被廣泛地用作模擬IP,特別是在通信和視頻處理應(yīng)用上。本文在0.35μm,5V數(shù)?;旌螧iCMOS工藝下設(shè)計(jì)了一種采樣精度為8比特,工作頻率為100MHz的低功耗二步式A/D轉(zhuǎn)換器。本文采用了二步式結(jié)構(gòu)以兼顧高速和低功耗要求。整個(gè)A/D轉(zhuǎn)換器分兩步進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換,高五位的A/D轉(zhuǎn)換采用兩級(jí)ECL電路和模擬量減法電路,低三位的A/D轉(zhuǎn)換采用全

2、并行(Flash)ADC,這樣的結(jié)構(gòu)級(jí)選擇很好地平衡了速度與功耗之間的矛盾。設(shè)計(jì)了一種高速的電壓比較器來提高整個(gè)轉(zhuǎn)換器的速度,并且大大降低了比較器的數(shù)目。由于低三位A/D轉(zhuǎn)換采用格雷碼編碼,所以在數(shù)據(jù)輸出之前,增加了格雷碼-二進(jìn)制轉(zhuǎn)換電路。設(shè)計(jì)了帶隙基準(zhǔn)電路,為ADC提供基準(zhǔn)電壓,而且能進(jìn)行一定范圍內(nèi)的微調(diào)。ADC中每個(gè)模塊都通過了功能仿真,達(dá)到了所需要的性能指標(biāo)。整個(gè)系統(tǒng)的主要指標(biāo)為:分辨率為8位、最高采樣率為100Msample/S

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