網(wǎng)絡分析儀非標準校正技術及其奇異點的研究.pdf

1、在網(wǎng)絡分析儀對微波網(wǎng)絡 S參數(shù)的測量中，測量系統(tǒng)的誤差校正非常重要。對網(wǎng)絡分析儀進行非標準校正，可以解決被測件接頭多樣性且各種接頭形式的標準件造價昂貴的問題，拓寬了網(wǎng)絡分析儀的應用范圍，提高了測量速度。因此，對非標準校正技術及其奇異點的研究具有重要意義。
　　本文在分析S參數(shù)的測量誤差的基礎上，研究了網(wǎng)絡分析儀誤差校正方法,包括分析網(wǎng)絡分析儀的結構、工作原理和測量方法，用已有的網(wǎng)絡分析儀測量 S參數(shù)時的誤差理論建立誤差模型，構造其

2、相應的標準件校正方法和非標準件校正方法。關于誤差模型，首先建立了十二項誤差模型，并以此誤差模型推導出了目前網(wǎng)絡分析儀上通用的SOLT（SHORT+OPEN+LOAD+THROUGH）標準校正方法和非標準算法 SLT（SHORT+LINE+THROUGH）；然后，通過對網(wǎng)絡分析儀機理的深入研究，建立了八項全誤差模型（無誤差項省略），并以該誤差模型推導出 OSL（OPEN+SHORT+LOAD）和SLT標準校正方法以及TLS（THROUGH

3、+LINE+SHORT）非標準校正方法。經(jīng)過實驗驗證，非標準校正技術可以獲得很好的測量結果。
　　用十二項誤差模型和八項誤差模型的非標準校正方法對測量系統(tǒng)進行誤差校正后，測量結果一般都會出現(xiàn)奇異點問題，且奇異點一般出現(xiàn)在傳輸線傳輸參數(shù)X相位的過0點，這可能與這些方法都使用了未知參數(shù)的傳輸線有關。本文通過對TSM(THROUGH+SHORT+MATCH）和TOM(THROUGH+OPEN+MATCH）方法以及 TS（THROUGH+

4、SHORT）和TO（THROUGH+OPEN）方法的分析與推導，對非標準校正技術中的奇異點進行了研究。研究結果表明，TSM和TOM誤差校正方法的奇異點問題可以使用不同的算法避免；在 TS和TO方法存在的奇異點問題，可以使用一個已知反射系數(shù)不等于且不接近1?的終端代替短路器標準件解決。
　　最后，本文構建了計算機輔助測量校正系統(tǒng)，以實現(xiàn)校正方法驗證工作。通過此輔助測量校正系統(tǒng)，我們進行了實驗，驗證了網(wǎng)絡分析儀非標準校正技術的可行性及