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1、少數(shù)載流子壽命(簡稱少子壽命)是半導(dǎo)體材料的一項重要參數(shù),它對半導(dǎo)體器件性能、太陽電池效率都有重要的影響。日益發(fā)展的光伏新能源迫切需要在實驗室、工業(yè)現(xiàn)場利用少子壽命來檢測太陽電池原材料、監(jiān)測太陽電池生產(chǎn)工藝。為了滿足光伏電池設(shè)計、生產(chǎn)的不斷需要,在國家863項目《薄膜太陽電池測試平臺》的支持下,對基于太陽電池材料少子壽命的測試進行調(diào)查和研究,并自主研制開發(fā)少子壽命測試儀。論文第二章將會闡述過剩少數(shù)載流子的產(chǎn)生機理和復(fù)合機理,復(fù)合機理包
2、括直接輻射復(fù)合、直接俄歇復(fù)合、通過體內(nèi)復(fù)合中心的間接復(fù)合、通過表面復(fù)合中心的間接復(fù)合,對于太陽電池材料,測量有效壽命可以歸結(jié)為體壽命和表面復(fù)合的影響。少子壽命的測試方法有很多種,本文重點研究的是微波反射光電導(dǎo)衰減法,其最大特點是可以非接觸、無損地測量樣品的少子壽命。采用微波反射光電導(dǎo)衰減法研制開發(fā)半導(dǎo)體材料少子壽命測試儀,在論文第三章將詳細介紹測試儀的研制開發(fā)過程。利用脈沖激光源系統(tǒng)、微波系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)三部分搭建的測試硬件平臺,能
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