水稻粒形相關(guān)性狀和柱頭外露率QTL定位研究.pdf

1、水稻粒形（粒長、粒寬和粒厚）決定了千粒重和外觀品質(zhì)，千粒重是決定水稻產(chǎn)量的一個重要因素。雖然雜交水稻已經(jīng)大范圍商業(yè)化，但是不育系較低的異交率使得雜交水稻的制種率低并且成本增高從而限制了雜交水稻的推廣。柱頭外露是影響水稻異交性能的重要因子，改良水稻不育系的柱頭外露率可以提高其異交率。為了探索水稻粒形、千粒重和柱頭外露的的遺傳基礎(chǔ)，本研究利用秈稻品種TGMS29和溫敏核不育系廣占63-4S雜交衍生的F2和F3群體，采用SSR標記和芯片技術(shù)連

2、續(xù)兩年對控制水稻粒形、千粒重和柱頭外露的數(shù)量性狀位點(QTL)開展定位。
　　在SSR檢測中，2014和2015兩年共檢測到5個控制粒長的QTL，分別位于第1、第2、第3和第7染色體上。其中，位于第1染色體上RM1和RM490之間和第2染色體上RM240和RM208之間的兩個QTL，在兩年內(nèi)均被重復檢測到，且解釋的表型變異分別為21.3％、22％和12.8％、15.7％。兩年共檢測到8個控制粒寬的QTL，分別位于第1、第2、第3、

3、第4、第7和第9染色體上，解釋的表型變異介于6.4％和34.6％之間。兩年共檢測到4個控制粒厚的QTL，分別位于第1、第3和第7染色體上。其中，位于第3染色體上RM251和RM571之間的QTL，在兩年內(nèi)被重復檢測到，且解釋的表型變異分別為53.60％、55.00％。兩年共檢測到4個控制千粒重的QTL，分別位于第1、第2和第3染色體上。其中，位于第1染色體上RM220和RM1之間的QTL，在兩年內(nèi)被重復檢測到，且解釋的表型變異分別為15

4、.1％、15.4％。兩年檢測到7個控制柱頭雙露率的QTL，分別位于第3、第4、第5、第7和第11染色體上。單個QTL解釋的表型變異介于6.06％和67.30％之間。兩年檢測到6個控制柱頭單露率的QTL，分別位于第3、第4、第5、第7和第11染色體上。單個QTL解釋的表型變異介于7.80％和53.40％之間。
　　采用中國種子公司芯片技術(shù)，2014和2015年兩年共檢測到8個控制粒長的QTL，分別位于第1、第2、第10染色體上。單個

5、QTL解釋的表型變異解釋介于0.02％和24.02％之間。兩年檢測到9個控制粒寬的QTL，分別位于第1、第2、第3、第4、第5、第7、第11和第12染色體上。單個QTL解釋的表型變異介于1.99％和28.54％之間。兩年檢測到11個控制粒厚的QTL，分別位于第1、第2、第3、第5、第7、第9和第12染色體上。單個QTL解釋的表型變異介于3.05％和35.77％之間。兩年檢測到10個控制千粒重的QTL，分別位于第1、第2、第4、第5、第7

6、、第11和第12染色體上。單個QTL解釋的表型變異介于0.88％和20.77％之間。兩年檢測到9個控制柱頭雙露率的QTL，分別位于第1、第2、第3、第4和第6染色體上。單個QTL解釋的表型變異介于1.75％和29.53％之間。兩年檢測到5個控制柱頭單露率的QTL，分別位于第1、第2、第3和第6染色體上。單個QTL解釋的表型變異介于1.58％和27.62％之間。
　　這些結(jié)果為粒形、千粒重、柱頭外露率遺傳基礎(chǔ)的解析、QTL的精細定位