NoC體系結構性能評估及通訊元件設計.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、目前,半導體的工藝節(jié)點已經減小到了50nm,單個芯片上可以集成的晶體管數目已經突破了10億只。工藝的進步使得在單一芯片上實現(xiàn)具有復雜功能的系統(tǒng)有了可能。另一方面,消費者對于功能更加強大、規(guī)模更大的集成電路的需求不斷增長,加之傳統(tǒng)總線結構的SoC(片上系統(tǒng))的弊端日益顯露。在這樣的背景下,人們借鑒計算機系統(tǒng)從單機到網絡發(fā)展的歷史經驗,試圖用基于通信的NoC(網絡化芯片)來解決目前集成電路設計中遇到的問題。 NoC的研究和應用目前尚

2、處于起步階段。其研究范圍比較廣泛,目前研究的主要內容有:拓撲結構、通訊協(xié)議、基礎元件庫和EDA實現(xiàn)理論與工具。本文在總結NoC理論體系的基礎上,重點介紹NoC體系結構性能的評估和NoC通訊元件的設計。 本文在分析了影響NoC體系結構性能的各種參數之后,介紹了用網絡仿真軟件NS2對幾種常見拓撲結構的通信進行仿真的過程。作者用awk對仿真得出的trace文件進行了處理,得到了網絡延遲、吞吐量和丟包率的定量值,并用繪圖工具xgraph

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