硬盤磁頭靜態(tài)角測量機(jī)的研究與開發(fā).pdf

1、隨著半導(dǎo)體、計(jì)算機(jī)科學(xué)以及信息技術(shù)的迅猛發(fā)展，市場對硬盤的需求也越來越大，對產(chǎn)品質(zhì)量也越來越重視。所以對硬盤磁頭的生產(chǎn)和檢測提出了更高的要求。
　　本項(xiàng)目通過建立一套高精度視覺檢測系統(tǒng)對磁頭靜態(tài)角PSA/RSA指標(biāo)進(jìn)行精確測量以確保通過測試的產(chǎn)品達(dá)到生產(chǎn)的要求。
　　本文首先分析測量系統(tǒng)的應(yīng)用領(lǐng)域和生產(chǎn)要求，給出了磁頭靜態(tài)角測量系統(tǒng)的總體設(shè)計(jì)方案，并對該方案進(jìn)行模塊化設(shè)計(jì)。
　　設(shè)備機(jī)械設(shè)計(jì)是設(shè)備設(shè)計(jì)成敗的關(guān)鍵，直接影

2、響最終的測量精度與重復(fù)性。本文將詳細(xì)介紹夾具設(shè)計(jì)與調(diào)整Z-height機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì)，并在過去設(shè)計(jì)的基礎(chǔ)上提出改進(jìn)的設(shè)計(jì)方法。
　　系統(tǒng)主要基于圖像處理方式進(jìn)行角度測量，因此圖像采集的質(zhì)量直接影響到檢測系統(tǒng)的檢測精度和檢測速度，是精確測量的重要因素。本文詳細(xì)分析了影響獲取圖像質(zhì)量的因素，通過選擇合適的視覺硬件和圖像處理算法，最終得到滿足要求的測量結(jié)果。
　　系統(tǒng)控制以運(yùn)動(dòng)控制板卡為主，在運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)中采用結(jié)合光柵遲的全閉環(huán)位置控制