Alnico永磁材料的輻照效應(yīng)研究.pdf

1、本文對Alnico永磁合金在質(zhì)子、中子和電子輻照條件下的損傷行為進(jìn)行了研究。利用XRD、EBSD和TEM研究了Alnico合金的相組成、織構(gòu)變化情況及微觀組織變化情況。采用穆斯堡爾譜考察 Alnico合金輻照前后超精細(xì)結(jié)構(gòu)的變化情況。應(yīng)用正電子湮沒壽命譜考察材料輻照前后缺陷變化情況。此外，應(yīng)用分子動(dòng)力學(xué)模擬技術(shù)模擬α-Fe中子輻照損傷過程中缺陷的變化情況。
　　不同劑量的10MeV質(zhì)子輻照使Alnico合金的磁通發(fā)生了不可逆變化，

2、矯頑力有所降低，其它磁技術(shù)參量的測試結(jié)果變化均在測試誤差范圍之內(nèi)。XRD和TEM結(jié)果表明質(zhì)子輻照沒有改變合金的晶體結(jié)構(gòu)。正電子湮沒壽命譜結(jié)果表明輻照后合金的缺陷沒有明顯的變化，但存在不同空位團(tuán)之間的相互轉(zhuǎn)化。穆斯堡爾譜研究表明輻照后合金的超精細(xì)結(jié)構(gòu)沒有明顯的變化。
　　不同劑量的3MeV中子輻照使Alnico合金的磁通發(fā)生了不可逆變化，各項(xiàng)磁技術(shù)參量的測試結(jié)果變化均在測試誤差范圍之內(nèi)。XRD結(jié)果表明輻照沒有使合金的晶體結(jié)構(gòu)發(fā)生變化

3、。TEM觀察發(fā)現(xiàn)輻照使合金調(diào)幅組織的相表面變得模糊。正電子湮沒壽命譜結(jié)果表明輻照后合金的缺陷沒有明顯的變化，但存在不同空位團(tuán)之間的相互轉(zhuǎn)化。
　　不同劑量的1.2MeV電子輻照下合金的磁通沒有發(fā)生明顯的變化，各項(xiàng)磁技術(shù)參量也沒有發(fā)生明顯的變化。說明 Alnico合金抗電子輻照的能力很強(qiáng)。XRD和TEM結(jié)果表明輻照前后合金的相結(jié)構(gòu)沒有發(fā)生明顯變化。正電子湮沒壽命譜結(jié)果表明輻照后合金的缺陷沒有明顯的變化，但存在不同空位團(tuán)之間的相互轉(zhuǎn)化