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文檔簡(jiǎn)介
1、基于半導(dǎo)體摻雜納米結(jié)構(gòu)能有效地改變半導(dǎo)體材料的電學(xué)、光學(xué)和磁學(xué)特性,近年來(lái)在制備與性能表征等方面的研究越來(lái)越被關(guān)注,其應(yīng)用價(jià)值也初步顯現(xiàn)。本論文旨在不同的溫度、載氣流速、基片位置等條件下制備CdS及其摻雜納米結(jié)構(gòu),并對(duì)其進(jìn)行結(jié)構(gòu)和光學(xué)性能的表征,并對(duì)其生長(zhǎng)機(jī)理進(jìn)行了初步的探討,研究的內(nèi)容及取得的主要結(jié)果如下:
1.從多組實(shí)驗(yàn)結(jié)果來(lái)看,在實(shí)驗(yàn)條件:反應(yīng)溫度900℃,反應(yīng)時(shí)間30分鐘,載氣流速300sccm和反應(yīng)溫度900℃,
2、反應(yīng)時(shí)間30分鐘,載氣流速400sccm狀態(tài)下,生成的CdS納米帶形貌均一,成分純凈,而且隨著基底位置離原料越來(lái)越遠(yuǎn),納米帶的寬度越來(lái)越細(xì),越趨于生成納米線(xiàn)。因此,通過(guò)多組實(shí)驗(yàn)我們可以推斷反應(yīng)溫度900℃,反應(yīng)時(shí)間30分鐘,載氣流速300-400sccm的條件,是該實(shí)驗(yàn)體系的最佳反應(yīng)條件。
2.通過(guò)改變載流氣流速和基片位置,獲得了CdS/Cr(Sn)異質(zhì)結(jié)構(gòu)和摻雜結(jié)構(gòu),并對(duì)其結(jié)構(gòu)和性能進(jìn)行表征。
CdS和Cr
3、粉末的體系中,在350sccm載流氣流速下,獲得了CdS/Cr絮狀納米線(xiàn)異質(zhì)結(jié)構(gòu),而在相對(duì)較慢的載流氣流速和較長(zhǎng)的反應(yīng)時(shí)間下,獲得了CdS/Cr鋸齒狀納米棒摻雜結(jié)構(gòu)。XRD表征結(jié)合選區(qū)電子衍射(SEAD)表明CdS/Cr絮狀納米線(xiàn)結(jié)構(gòu)為六方晶型的CdS結(jié)構(gòu)和多晶Cr({110},{200})結(jié)構(gòu)組成的異質(zhì)結(jié)構(gòu),對(duì)其進(jìn)行的PL性能測(cè)試顯示:在46.nm,51.nm和71.nm處有三個(gè)發(fā)射峰,分別對(duì)應(yīng)表面Cr顆粒引起的光發(fā)射,CdS的本征發(fā)
4、射峰以及由于CdS表面的缺陷所引起的發(fā)射峰;而CdS/Cr鋸齒狀納米棒結(jié)構(gòu)為六方晶型CdS結(jié)構(gòu),因Cr元素的摻雜,晶型參數(shù)有稍微的偏移,其禁帶發(fā)射波長(zhǎng)也有稍微的藍(lán)移現(xiàn)象。
另外在CdS和Sn粉術(shù)的體系中,在300sccm載流氣流速下,獲得了CdS/Sn齒狀納米棒異質(zhì)結(jié)構(gòu),而在較長(zhǎng)的反應(yīng)時(shí)間條件下,獲得了CdS/Sn齒狀納米棒摻雜結(jié)構(gòu)。XRD表征表明CdS/Sn齒狀納米棒異質(zhì)結(jié)構(gòu)為六方晶型的CdS結(jié)構(gòu)和SnAu結(jié)構(gòu)組成的異質(zhì)
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