不同鹽-灰密下普通絕緣子串交流閃絡(luò)特性的研究.pdf

1、污閃是電力系統(tǒng)安全運行的主要威脅之一，也是外絕緣選擇的決定性因素之一。研究絕緣子污閃特性與污穢程度之間關(guān)系，建立符合工程實際的污穢等級劃分方法具有重要的工程應(yīng)用價值和學術(shù)意義。國內(nèi)外對等值鹽密(ρESDD)與染污絕緣子交流閃絡(luò)電壓(Uf)之間的關(guān)系進行了大量研究，但對灰密(ρNSDD) 的影響以及對ρESDD和ρNSDD共同作用下的閃絡(luò)特性研究則相對較少，尚未見綜合考慮ρESDD和ρNSDD影響的污閃電壓計算公式和污穢等級劃分方法。本文

2、在總結(jié)國內(nèi)外現(xiàn)有研究成果的基礎(chǔ)上，以7片串普通懸式瓷絕緣子(XP-160)為試品，在重慶大學高電壓與電工新技術(shù)教育部重點實驗室人工霧室內(nèi)進行了大量的人工污穢試驗，根據(jù)試驗結(jié)果，分析了污閃電壓與ρESDD和ρNSDD的關(guān)系。論文主要的工作和結(jié)論如下： (1) 采用浸污法對7×XP-160絕緣子串進行染污，試驗研究了ρESDD和ρNSDD與絕緣子串交流污閃電壓Uf的關(guān)系。結(jié)果表明：ρESDD和ρNSDD均對Uf有影響，ρESDD和

3、ρNSDD對人工污穢絕緣子串Uf的影響均符合冪函數(shù)規(guī)律，且兩者對Uf的影響彼此獨立。 (2) 采用定量涂刷法對3×XP-160絕緣子串進行染污，研究污穢中不溶物成分對交流污閃電壓的影響。結(jié)果表明：同一污穢度下，高嶺土染污的絕緣子串Uf低于硅藻土染污絕緣子串Uf。 (3) 采用最小二乘法和Table Curve軟件對試驗結(jié)果進行分析，得到7片串XP-160絕緣子串的Uf可表示為，其中K=34.2，c=0.24，d=0.

4、14。經(jīng)試驗驗證，上式誤差在工程應(yīng)用允許誤差范圍之內(nèi)。 (4) 由于ρNSDD對人工污穢絕緣子污閃電壓有影響，因此在進行人工污穢試驗、外絕緣選擇以及污穢等級劃分時，既要考慮ρESDD的影響，也要考慮ρNSDD的影響。 (5) 根據(jù)研究結(jié)果分析驗證了IEC60815以ρNSDD和ρESDD為污穢特征量進行污穢等級劃分的方法，根據(jù)我國污染源特點建議將IEC60815標準中ρNSDD與ρESDD比值處于20/1~1/10之