網(wǎng)絡(luò)化邊緣掃描測試控制器的研制與系統(tǒng)組建.pdf

1、隨著深亞微米集成電路技術(shù)的發(fā)展,已經(jīng)可以將大多數(shù)甚至所有的系統(tǒng)功能封裝在單個芯片上。與此同時,越來越高的芯片集成度和印制板組裝密度,使得外部可訪問的引腳數(shù)越來越少,集成電路和PCB的測試變得越來越困難。從而導(dǎo)致芯片測試可能比芯片的設(shè)計生產(chǎn)付出的成本還要高。邊緣掃描測試技術(shù)就是一種將可測性直接設(shè)計到硅片里的技術(shù),支持系統(tǒng)級、板級、芯片級等所有層級的測試。邊緣掃描測試技術(shù)為集成電路的可測性設(shè)計提供了一個測試接口和體系結(jié)構(gòu),并且已標(biāo)準(zhǔn)化,定為

2、IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)。隨著信息技術(shù)的發(fā)展,人們對測試的要求也越來越高,要求實現(xiàn)儀器資源的共享和對儀器的遠程控制,即實現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)化測試。而將網(wǎng)絡(luò)化測試技術(shù)同邊緣掃描測試技術(shù)相結(jié)合,組建網(wǎng)絡(luò)化邊緣掃描測試系統(tǒng),則能提高邊緣掃描測試技術(shù)的實用性。本文利用嵌入式技術(shù)開發(fā)了以太網(wǎng)邊緣掃描控制器,此控制器實現(xiàn)了以太網(wǎng)接入功能,可以測試任何符合IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)的器件、電路板和系統(tǒng)。使用C++語言自主設(shè)計的軟件接口提供了控制邊緣掃描控制器的動態(tài)

3、庫函數(shù)和自動解析邊緣掃描描述語言(Boundary-scanDescriptionLanguage,簡稱BSDL)文件的類。設(shè)計了具有四條邊緣掃描鏈路的電路板,作為被測目標(biāo)。最后,利用邊緣掃描控制器和軟件接口,以及針對被測目標(biāo)的測試算法軟件,組建了網(wǎng)絡(luò)化邊緣掃描測試系統(tǒng),從而實現(xiàn)了對各被測鏈路的器件識別、邊緣掃描鏈路測試、電路板級互連線測試(開路和短路故障測試)以及內(nèi)測試。本文首先討論了課題的研制背景和意義,以及邊緣掃描技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀和