原子力顯微鏡技術(shù)及其在分子結(jié)構(gòu)形態(tài)學(xué)方面的應(yīng)用研究.pdf

1、原子力顯微鏡自1986年問世以來，經(jīng)過十多年的技術(shù)改進(jìn)和應(yīng)用研究，憑借其納米量級的精度和不受樣品表面導(dǎo)電性限制的優(yōu)勢奠定了它作為一種獨(dú)立的表面分析儀器的地位，促進(jìn)了納米科技領(lǐng)域七大分支的高速發(fā)展，尤其在生物學(xué)、生命科學(xué)和材料學(xué)方面的應(yīng)用研究獲得了較高的科研價值，為這些原來的瓶頸專業(yè)開創(chuàng)了巨大的發(fā)展空間。 本次論文工作首先簡述了原子力顯微鏡(Atomic Force Microscopy，AFM)的發(fā)展歷程;從理論上探討了AFM的

2、工作機(jī)理；并針對重慶大學(xué)研制的AFM.IPC- 208B型機(jī)進(jìn)行了整機(jī)系統(tǒng)的深入了解，其靈敏的反饋回路和納米量級的進(jìn)給系統(tǒng)確保了整機(jī)穩(wěn)定的工作狀態(tài)；本論文課題任務(wù)則更側(cè)重于探討實(shí)驗(yàn)操作過程中影響檢測結(jié)果的重要因素及其在納米材料學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用，尤其是小分子微觀結(jié)構(gòu)的觀測研究，對部分已作的微觀結(jié)構(gòu)研究進(jìn)行了較為詳盡的敘述和探討。 在論文的最后對實(shí)驗(yàn)研究過程中遇到的問題進(jìn)行了深入的思考，不僅從理論上給予了解釋，而且針對儀器本身存在的一些