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1、分類號(hào)——學(xué)校代碼!!!璺gZ學(xué)號(hào)2QQ3鰱!墅QQ塑密級(jí)掌中科枝大署碩士學(xué)位論文用于磁性吸波涂層厚度無(wú)損測(cè)量的電容測(cè)厚儀的研制學(xué)位申請(qǐng)人:學(xué)科專業(yè):指導(dǎo)教師:答辯日期:王春光微電子學(xué)與固體電子學(xué)龔榮洲教授2006年3月31日華中科技大學(xué)碩士學(xué)位論文AbstractThicknessmeasurementandcheckofradarabsorbingcoat毋AC)isveryimportantfortheirtheoreticals
2、tudyandapplicationIntiffsthesis,severalcormmoncoatingthicknesstheoryandmethodsareintroducedAccordingontheelectromagneticabsorberpeculiarityandthestructurecharacteristicsofRAC,RACpaintedonaluminiumalloybase,anewhighpe南rma
3、nce,capacitancebasedthicknessmeasuringsystemforRAChasbeenproposedInthepolestructuredesigning,addinganequipotentialshieldingprotectpolearoundthetestpoleofthecoatedcapacitivesensorandaccordinglyusingdrivecabletechniquetedu
4、ceeffectivelytheinfluenceoftheedgeeffectandcablecapacitanceonmeasuringAlsomakingsignalcollectingckcuitandcapacitivesensorasaunitblockteducestraycapacitanceandusingPCBtechnologictofabricatethepoleteducefurthertheinfluence
5、oftheedgeeffectAllthesemeasnreareableteducetheinfluenceofcapacitivesensordisadvantagefactorduringpoledesignThisthesismadeextensiveanalysisonthesemeasulcsandpresentedanewkindofcomedcapacitancesensor:Thestabilityofthekerne
6、lcircuitusedtoconvertandamplifytheinputsignalisofmostimportanceThisthesisanalyzedvariousfactorsaffectingthestabilityoftheinstrumentInordertoimplementhi曲accuracymeasurement,therelevantmethodswerepresentedSuchas:byusingane
7、wcapacitancevoltageconverter(CVC)fl陷l“neASIC,CAV424,shieldingandalowcostRISCrnicrocontrollerOvtcu),threesignalapproachassociatedwithdifferencetechnology,thesystemCanbeautomaticbalancedandmostoftheerrorsareeliminatedSince
8、theoutputsignalfromthesignaIconditioningASICisIndustry—standardvoltagesignalandA/DconverterisembeddedintheMCU,theoutputoftheASICCandirectlybeconnectedtoamicrocontroUerAsusiI培Alanega8MCU,thesystemhasnottoUSeexternalADC,br
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