X射線測厚儀的研制.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本文深入研究了X射線透過物質時的衰減規(guī)律及X射線測厚儀的測量原理和方法。根據性能指標的預期目標對測量方案進行了總體設計,并對X射線測厚儀的主要部件進行了選型。
　　 在硬件電路設計上,為了提高系統(tǒng)的分辨率,在前端電路板設計了4路模擬電路通道,并對各種干擾源進行了屏蔽及過濾,大大提高了X射線測厚儀的測量范圍。信號處理板以16位,1M采樣速率的AD轉換芯片及ARM7處理器為核心,對模擬信號進行A/D轉換及進行初步的數字信號處理,同時

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