薄膜X射線測厚儀的設(shè)計和軟件開發(fā).pdf

1、在薄膜工業(yè)生產(chǎn)中，測厚儀的測量精度直接影響到薄膜的質(zhì)量。為了生產(chǎn)出高質(zhì)量及高精度的薄膜產(chǎn)品，檢測技術(shù)和高效高精度的在線測厚儀的作用則顯得非常突出了。而在國內(nèi)的測厚儀市場中，則絕大部分都是外國的產(chǎn)品，國內(nèi)大部分薄膜生產(chǎn)線采用的測厚儀都是國外進口設(shè)備，成本較高，維護起來不方便。而國產(chǎn)的測厚儀產(chǎn)家較少，而且存在著精度不高，功能不完善等的缺陷。
　　 本文介紹了雙向拉伸薄膜生產(chǎn)線上的X射線測厚儀的研制和軟件設(shè)計過程。主要從以下方面對研制

2、和設(shè)計作了詳細介紹。
　　 首先從薄膜生產(chǎn)工藝和X射線測厚儀原理和整體結(jié)構(gòu)設(shè)計進行描述，并闡明各個結(jié)構(gòu)的組成和原理，并介紹了在設(shè)計中各個部件的選型設(shè)計和功能。硬件方面主要從以下幾個方面介紹：探頭，數(shù)據(jù)采集，主控制單元，伺服系統(tǒng)，并介紹了操作終端設(shè)計。
　　 其次對生產(chǎn)的控制對象模型進行辯識并對參數(shù)進行整定優(yōu)化，以兩階段辨識算法對薄膜測厚系統(tǒng)進行建模，并通過實際數(shù)據(jù)與仿真數(shù)據(jù)的比較說明模型的正確性；通過對薄膜測厚系統(tǒng)的分析

3、，采用工業(yè)上最為常用的PID控制作為薄膜輸出的控制方法，使用IMC-PID作為PID參數(shù)整定的方法，獲得了傳統(tǒng)PID參數(shù)整定的方法達不到的控制效果。
　　 再次對測厚儀的監(jiān)控軟件方面進行了描述，重點介紹了組態(tài)王的特點和上位機檢測系統(tǒng)的開發(fā)，描述了各主要界面的功能和用途。最后我們對數(shù)據(jù)處理和外部數(shù)據(jù)庫操作的功能模塊進行封裝設(shè)計成Active X控件以供上位機調(diào)用，并著重介紹了MySQL數(shù)據(jù)的安裝配置，操作設(shè)計，性能優(yōu)化以及維護。<