基于ARM的材料試驗(yàn)機(jī)測試系統(tǒng)的研究與開發(fā).pdf

1、材料試驗(yàn)機(jī)是測定材料機(jī)械性能的基本設(shè)備之一，應(yīng)用范圍廣泛。它主要由機(jī)械、加載及測試等系統(tǒng)組成，其中測試系統(tǒng)是試驗(yàn)機(jī)不可缺少的組成部分，它對試驗(yàn)機(jī)的性能又起著決定性作用。隨著實(shí)驗(yàn)科學(xué)的發(fā)展、科技的進(jìn)步以及應(yīng)用需求的增加，舊有的測試系統(tǒng)已逐漸不能適應(yīng)人們的測試需求，為了擴(kuò)大傳統(tǒng)材料試驗(yàn)機(jī)的應(yīng)用范圍，全面提高測量的準(zhǔn)確性、實(shí)驗(yàn)效率和智能化水平，越來越多的高新技術(shù)正在被引入到材料試驗(yàn)機(jī)測試系統(tǒng)領(lǐng)域。 本課題屬于企業(yè)委托的技術(shù)開發(fā)項(xiàng)目，其

2、目的是開發(fā)一套用于材料性能測試的試驗(yàn)機(jī)測試系統(tǒng)。針對項(xiàng)目委托方提出的功能要求，經(jīng)過對試驗(yàn)機(jī)測試技術(shù)及其發(fā)展趨勢的研究分析，最終確定采用USB總線技術(shù)，設(shè)計(jì)一款基于32位嵌入式微處理器ARM的集數(shù)據(jù)采集、分析、顯示為一體的試驗(yàn)機(jī)測試系統(tǒng)。 基于課題的研究內(nèi)容，本文在分析研究USB和ARM技術(shù)的基礎(chǔ)上，圍繞著設(shè)計(jì)目標(biāo)，從整體方案的選擇、測試系統(tǒng)的軟硬件設(shè)計(jì)等方面闡述了主要開展的設(shè)計(jì)研究工作。重點(diǎn)對系統(tǒng)硬件電路設(shè)計(jì)、固件程序設(shè)計(jì)、設(shè)備