基于DES理論的數(shù)?；旌想娐返目蓽y試性與故障診斷研究.pdf

1、電路復(fù)雜度的增加使得電路測試領(lǐng)域面臨著前所未有的挑戰(zhàn)，更多的電路同時包含了數(shù)字和模擬兩種信號。離散時間系統(tǒng)理論(DES-DiscreteEventSystem)把數(shù)?；旌想娐分袛?shù)字/模擬信號統(tǒng)一在同一個數(shù)學(xué)模型下，有效的覆蓋目前大部分類型的電路測試問題，在一定程度上解決了數(shù)?；旌想娐饭收显\斷困難的問題。因此本文應(yīng)用該理論對數(shù)模混合電路的狀態(tài)和事件之間的映射關(guān)系進(jìn)行理論分析和研究，尋求待測數(shù)?；旌想娐返淖钚y試集和固障特征字典。

2、本文的主要工作如下： ◆研究了在DES理論的框架內(nèi)對數(shù)模混合電路進(jìn)行可測試性與故障診斷研究的數(shù)學(xué)模型。 ◆在基于DES理論的電路測試中，一個重要的任務(wù)就是為了以較小的代價來完成測試，需要找到電路測試的最小測試集。本文提出了利用混沌搜索及混沌遺傳算法來實(shí)現(xiàn)最小測試集的求取，并通過編程實(shí)現(xiàn)了該算法。同時對現(xiàn)有的幾種求取最小測試集的算法進(jìn)行了比較分析。 ◆將DES理論的模型應(yīng)用到實(shí)際電路中，采用EDA工具M(jìn)ultisi