基于散射調(diào)制技術(shù)的近場(chǎng)測(cè)量方法研究.pdf

1、在天線的設(shè)計(jì)過程中，往往要測(cè)量天線的遠(yuǎn)場(chǎng)輻射特性。近場(chǎng)測(cè)量技術(shù)提供了一種研究天線的方法，它能為研究工作提供足夠多的數(shù)據(jù)。而目前所使用的天線近測(cè)量方法速度慢，制約了天線近場(chǎng)測(cè)量技術(shù)的推廣應(yīng)用。引入散射調(diào)制技術(shù)就是為了克服這個(gè)缺點(diǎn)。 通過采用探頭陣列，將近場(chǎng)測(cè)量中傳統(tǒng)的機(jī)械掃描轉(zhuǎn)變?yōu)殡姃呙?，克服掃描速度慢的缺點(diǎn)，大幅度提高近場(chǎng)測(cè)量的效率。該方法的實(shí)現(xiàn)關(guān)鍵在于采用了調(diào)制散射技術(shù)。探頭陣列的每個(gè)單元與近場(chǎng)測(cè)量的采樣點(diǎn)相對(duì)應(yīng)，如果采用高頻

2、多路開關(guān)來對(duì)探頭的接收信號(hào)進(jìn)行切換，多路開關(guān)各通道之間的串?dāng)_隔離很難做好。讓探頭陣列每個(gè)探頭工作在散射模式，并且把一個(gè)低頻源加在探頭上，對(duì)探頭的散射信號(hào)進(jìn)行調(diào)制。通過低頻多路器順序調(diào)制探頭陣列的每一個(gè)探頭，并經(jīng)相干檢測(cè)我們可以區(qū)分不同探頭的Ⅱ向應(yīng)，實(shí)現(xiàn)電掃描。由散射矩陣和互易定理可以證明探頭在被測(cè)點(diǎn)所產(chǎn)生的散射信號(hào)與被測(cè)點(diǎn)的電場(chǎng)分量成正比。 探頭單元和陣列形式是測(cè)量系統(tǒng)中最重要的部分。本文對(duì)散射調(diào)制技術(shù)在天線近場(chǎng)測(cè)量中應(yīng)用的探頭