充壓法氦質(zhì)譜檢漏的器件漏率雙值求解和粗、細(xì)檢漏的可靠銜接.pdf_第1頁
已閱讀1頁，還剩75頁未讀， 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明：本文檔由用戶提供并上傳，收益歸屬內(nèi)容提供方，若內(nèi)容存在侵權(quán)，請進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡介

1、隨著微電子技術(shù)的發(fā)展，電子產(chǎn)品的集成度日益增大，速度越來越快，功率增大，I／0數(shù)逐漸增多，對封裝提出了更高的要求，封裝的密性性直接影響了IC芯片制造的合格和可靠，直接影響微電子器件的高頻性能、熱性能、可靠性和成本。氦質(zhì)譜析漏是電子界較常用的無損檢漏方法。但是其雙值特性對撿漏結(jié)果的影響，一直以來沒有得到很好解決。 為了能正確的進(jìn)行電子元器件的密封性篩選試驗(yàn)工作，并能解決實(shí)驗(yàn)工作中遇到的問題，預(yù)測密封性篩選在元器件可靠性上所能達(dá)到的

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明，都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等，如果需要附件，請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙，網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽，若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間，僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理，對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯，并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容，請與我們聯(lián)系，我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論