RTL級(jí)基于覆蓋率驅(qū)動(dòng)EMI的驗(yàn)證.pdf

1、隨著嵌入式系統(tǒng)的高速發(fā)展，嵌入式SoC芯片應(yīng)用范圍越來(lái)越廣泛，而SoC芯片大多包含有外部存儲(chǔ)器接口模塊(EMI，ExternalMemoryInterface)，本文討論的基于ARM7TDMI的“Garfield”系統(tǒng)芯片中的EMl支持多種不同類(lèi)型的存儲(chǔ)器，包括SRAM、ROM：、Nor Flash、SDRAM及NandFlash，對(duì)其進(jìn)行充分的功能驗(yàn)證，保證EMI一次性流片成功尤為重要。目前多數(shù)的IC設(shè)計(jì)項(xiàng)目中，功能驗(yàn)證一直以米都是設(shè)

2、計(jì)中最難克服利最具有挑戰(zhàn)性的課題之一。功能驗(yàn)證的難點(diǎn)主要體現(xiàn)在以下兒個(gè)方面：測(cè)試向量的快速生成，驗(yàn)證平臺(tái)的可重川性，驗(yàn)證質(zhì)量的評(píng)估利同歸測(cè)試。 本文的研究?jī)?nèi)容是Garfield系統(tǒng)芯片設(shè)計(jì)的一部分，著重討論了一款SoC芯片Garfield中EMI的功能及其功能驗(yàn)證，本論文的主要工作是對(duì)Garfield中EMI的RTL級(jí)功能驗(yàn)證平臺(tái)的設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)。 為了保證EMI的總體設(shè)計(jì)和驗(yàn)證要求，在對(duì)EMI驗(yàn)證過(guò)科中吸納和綜合使用了兩種技

3、術(shù)：一是可重用的驗(yàn)證環(huán)境開(kāi)發(fā)技術(shù)，它幫助驗(yàn)證工程師根據(jù)驗(yàn)證計(jì)劃中的功能點(diǎn)產(chǎn)生約束，自動(dòng)生成測(cè)試矢量，提高驗(yàn)證工作效率；二是基丁覆蓋率驅(qū)動(dòng)的驗(yàn)證技術(shù)，它的作用是完善功能驗(yàn)證工作的驗(yàn)證計(jì)劃，幫助驗(yàn)證工程師發(fā)現(xiàn)待驗(yàn)證模塊中的設(shè)計(jì)錯(cuò)誤，通過(guò)多次同歸測(cè)試，不斷的基丁覆蓋率驅(qū)動(dòng)加強(qiáng)約束開(kāi)發(fā)確定性的測(cè)試場(chǎng)景，最后達(dá)到了指定的覆蓋率。 本文主要的研究工作如下： 1．基丁Garfield體系結(jié)構(gòu)，討論EMI在Garfield系統(tǒng)芯片中的地

4、位，作用，以及該設(shè)計(jì)的結(jié)構(gòu)，全面掌握EMI的設(shè)計(jì)原理和實(shí)現(xiàn)方案，及其功能性能特點(diǎn)，并根據(jù)EMI的功能規(guī)格定義制定了詳細(xì)驗(yàn)證計(jì)劃。 2．確定以Specman為驗(yàn)證平臺(tái)，并以Specman平臺(tái)支持的驗(yàn)證語(yǔ)言——E語(yǔ)言，設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了EMIRTL，級(jí)基_丁覆蓋率驅(qū)動(dòng)的驗(yàn)證環(huán)境，該環(huán)境具有高度的可擴(kuò)展性和可重用性，并已成功應(yīng)用丁Garfield中EMI的各功能的驗(yàn)證，最后并對(duì)EMI驗(yàn)證結(jié)果進(jìn)行分析和評(píng)估。 3．在基于ARM的ADS調(diào)