反向工程中數(shù)字近景攝影測(cè)量系統(tǒng)三維光學(xué)測(cè)量關(guān)鍵技術(shù)研究.pdf

1、綜合近景攝影測(cè)量技術(shù)和光柵投影測(cè)量技術(shù)的實(shí)物數(shù)據(jù)獲取方法是目前眾多反向工程測(cè)量技術(shù)中針對(duì)大型的、結(jié)構(gòu)復(fù)雜的測(cè)量對(duì)象的最高效的方法之一。這種方法由近景攝影測(cè)量獲取散布在被測(cè)物體上或周?chē)娜斯?biāo)記點(diǎn)群的三維坐標(biāo)，再以這些坐標(biāo)數(shù)據(jù)作為光柵投影分片測(cè)量點(diǎn)云拼接的依據(jù)，從而獲取得到整體測(cè)量數(shù)據(jù)。這種綜合方法既具有光柵投影測(cè)量的高效率又消除了數(shù)據(jù)拼接時(shí)的累積誤差。該方法需要在被測(cè)物體表面貼兩類(lèi)測(cè)量標(biāo)記點(diǎn)，一類(lèi)是近景攝影測(cè)量系統(tǒng)和光柵測(cè)量系統(tǒng)都可以識(shí)

2、別的，沒(méi)有固定編號(hào)的標(biāo)記點(diǎn)，稱(chēng)為非編號(hào)標(biāo)記點(diǎn)，此類(lèi)標(biāo)記點(diǎn)只需識(shí)別其特征的中心位置；另一類(lèi)是只有近景攝影測(cè)量系統(tǒng)可以識(shí)別的、表面特征各為不同并且有固定數(shù)字編號(hào)的標(biāo)記點(diǎn)，稱(chēng)為編號(hào)標(biāo)記點(diǎn)，這類(lèi)標(biāo)記點(diǎn)在圖像識(shí)別中既需要識(shí)別其特征的中心位置，又需要識(shí)別其具體的編號(hào)代碼。其中，非編號(hào)標(biāo)記點(diǎn)的作用是作為每次光柵測(cè)量得到的點(diǎn)云拼合的參照。而編號(hào)標(biāo)記點(diǎn)的作用則是通過(guò)近景攝影測(cè)量原理，根據(jù)其自身的空間坐標(biāo)和兩類(lèi)測(cè)量標(biāo)記點(diǎn)之間的距離關(guān)系，將不同的數(shù)字圖像上的

3、非編號(hào)標(biāo)記點(diǎn)進(jìn)行匹配，以獲得貼放在物體表面上的非編號(hào)標(biāo)記點(diǎn)的空間坐標(biāo)信息，從而提高點(diǎn)云拼合的精度。 全文按照攝影測(cè)量的實(shí)現(xiàn)過(guò)程主要研究了以下內(nèi)容： 1. 本文在MATLAB平臺(tái)上首先利用一系列的圖像處理技術(shù)將原圖像轉(zhuǎn)化為含有較少干擾雜質(zhì)塊的二值圖像。 2. 利用Zernike矩不變量和支持向量機(jī)(SVM)方法實(shí)現(xiàn)了編號(hào)標(biāo)記點(diǎn)的識(shí)別。采用Hamming距離來(lái)求取識(shí)別編號(hào)標(biāo)記點(diǎn)所需要的Zernike特征向量的維數(shù)。