基于邊界變形的EIT算法及電極阻抗特性研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、電阻抗斷層成像技術(shù)(Electrical Impedance Tomography，EIT)具有無輻射、無損傷，簡捷、成本低廉、安全等特點。可從細胞層次上提取到人體組織與器官在尚未出現(xiàn)結(jié)構(gòu)性病變之前的電特性變化，給出疾病的早期預(yù)報信息，在醫(yī)學(xué)臨床監(jiān)護等領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用前景。 在分析、研究國內(nèi)外EIT重建算法研究與發(fā)展動態(tài)的基礎(chǔ)上，本文針對電極運動和邊界變形對圖像重建的影響，提出了一種基于正則化的圖像重建算法，進行了仿真成像實驗

2、。同傳統(tǒng)的Tikhonov正則化方法相比，論文算法不僅保證了逆問題求解的穩(wěn)定性，而且補償了電極運動帶來的重建圖像偽差。表明了論文的正則化算法在補償電極運動和邊界變形方面具有明顯優(yōu)勢。 在分析生物電測量與EIT電極使用特點的基礎(chǔ)上，進行了EIT電極阻抗特性的研究。建立了基于Visual C++環(huán)境的電極阻抗特性測量系統(tǒng)。對市場上的10種一次性銀/氯化銀ECG測量電極進行了阻抗特性測量和EIT應(yīng)用評價。結(jié)果表明，不同廠家不同生產(chǎn)時間

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