基于圖論的雙容錯RAID數(shù)據(jù)布局方法的研究.pdf

1、磁盤陣列應(yīng)用日益廣泛。信息量的飛速增長，導(dǎo)致存儲規(guī)模不斷擴(kuò)大。對存儲系統(tǒng)的性能和可靠性要求也逐漸提高。容單盤故障RAID系統(tǒng)在許多應(yīng)用領(lǐng)域已經(jīng)不滿足要求，雙容錯的需求越來越強(qiáng)烈。 本文首先介紹了磁盤陣列的相關(guān)技術(shù)，總結(jié)了單容錯和雙容錯磁盤陣列的典型構(gòu)造方法，同時也簡單介紹了磁盤陣列的應(yīng)用趨勢。 本文提出了一種新的雙容錯磁盤陣列數(shù)據(jù)布局方法，稱為BGDP方法。該方法是在文獻(xiàn)[24]的研究成果上發(fā)展出來的。該文提出了用圖表示

2、雙容錯數(shù)據(jù)布局的校驗組及校驗組之間的關(guān)系，給出了基于圖的滿足雙容錯數(shù)據(jù)布局的判定定理，為使用圖論領(lǐng)域的研究結(jié)果來構(gòu)造布局提供了堅實(shí)的基礎(chǔ)。本文在這個基礎(chǔ)之上，結(jié)合圖論領(lǐng)域完全二部圖的完美1-因子分解的研究結(jié)果，提出了能夠容兩個磁盤故障的RAID數(shù)據(jù)布局構(gòu)造方法BGDP。該方法構(gòu)造算法簡單直觀，布局性能良好，適用范圍廣。由于將校驗單元與數(shù)據(jù)單元布局在不同的磁盤上，在磁盤陣列擴(kuò)展過程中無須移動現(xiàn)有的數(shù)據(jù)單元，擴(kuò)展算法快速簡單，在數(shù)據(jù)量指數(shù)級