基于嵌入式系統(tǒng)的新一代VLSI高溫動(dòng)態(tài)老化測(cè)試平臺(tái).pdf

1、隨著微電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展，微控制芯片功能越來越強(qiáng)大，而嵌入微控制芯片的設(shè)備和系統(tǒng)越來越多，使得嵌入式技術(shù)越來越引人注目。同時(shí)，半導(dǎo)體集成電路的廣泛應(yīng)用使得其可靠性問題越來越突出，老化試驗(yàn)作為一種能夠?qū)a(chǎn)品早期故障剔除的無損試驗(yàn)技術(shù)也成為提高產(chǎn)品可靠性的重要手段。現(xiàn)在，需要老化的集成電路越來越復(fù)雜，已有的老化系統(tǒng)已不能滿足要求。開發(fā)新一代的老化測(cè)試平臺(tái)就成了本文研究和解決的重要課題。 本設(shè)計(jì)是對(duì)原有的BTI3000N型系統(tǒng)

2、的升級(jí)換代，將嵌入式技術(shù)引入了老化測(cè)試領(lǐng)域，同時(shí)結(jié)合可編程ASIC技術(shù)，大大提高了系統(tǒng)的性能，簡(jiǎn)化了編程工作，縮短了系統(tǒng)開發(fā)時(shí)間，實(shí)現(xiàn)了整個(gè)系統(tǒng)的軟硬件可配置，具有很好的通用性和擴(kuò)展性，可老化各種數(shù)字、模擬器件，在該領(lǐng)域?qū)儆谑讋?chuàng)。 本文首先介紹了嵌入式系統(tǒng)的概念和應(yīng)用以及集成電路老化技術(shù)的原理和發(fā)展，指出了國(guó)內(nèi)老化技術(shù)面臨的問題。接著介紹了平臺(tái)硬件結(jié)構(gòu)的組成和操作系統(tǒng)的特點(diǎn)，并分析了內(nèi)核的啟動(dòng)過程。最后詳細(xì)討論了針對(duì)本平臺(tái)的應(yīng)用

3、程序的開發(fā)。 歸納起來，本文主要具體工作如下：1.對(duì)嵌入式系統(tǒng)和集成電路老化技術(shù)的介紹。 2.分析uClinux操作系統(tǒng)的特點(diǎn)，指出它與標(biāo)準(zhǔn)Linux的區(qū)別及其對(duì)應(yīng)用程序開發(fā)造成的影響。 3.詳細(xì)分析內(nèi)核啟動(dòng)過程，指出移植到本平臺(tái)需要做的修改。 4.利用GNU和VC6.0開發(fā)了平臺(tái)管理程序。 5.實(shí)現(xiàn)了多塊FPGA的并行配置。 6.編寫和調(diào)試了平臺(tái)主控程序，實(shí)現(xiàn)了老化RAM、DSP和FPG