12974.x射線(xiàn)能譜測(cè)量與模擬

1、ClassifiedIndex：0469UDC：530SecrecyRate：PublicizedUniversityCode：10082HebeiUniversityofScienceandTechnologyDissertationfortheMasterDegreeXraySpectrumMeasurementandSimulationCandidate：Supervisor：AssociateSuoervisor：Academi

2、cDegreeAppliedfor：Speciality：Employer：DateofOralExamination：YaoXinboProfRenShiweiAssociateProfWuJinjieMasterofScienceCondensedMatterPhysicsCollegeofSciencesMay2015摘要出蠡i五于尚要1895年，德國(guó)科學(xué)家倫琴發(fā)現(xiàn)了X射線(xiàn)，開(kāi)辟了一個(gè)嶄新的、廣闊的物理研究領(lǐng)域。其中，針對(duì)電子打靶

3、產(chǎn)生的韌致輻射x射線(xiàn)的研究，是X射線(xiàn)研究領(lǐng)域的一個(gè)重要課題。本文在國(guó)內(nèi)外針對(duì)X射線(xiàn)能譜測(cè)量與解析的基礎(chǔ)上，利用高純鍺(HPGe)探測(cè)器使用直接測(cè)量法與間接測(cè)量法對(duì)鎢靶X射線(xiàn)與鉬靶x射線(xiàn)能譜進(jìn)行了測(cè)量。工作分為以下幾個(gè)部分：1)利用標(biāo)準(zhǔn)點(diǎn)源分別對(duì)高純鍺(HPGe)探測(cè)器與碲化鎘(CdTe)探測(cè)器進(jìn)行能量刻度，得到能量刻度曲線(xiàn)。2)利用工業(yè)CT對(duì)能譜探測(cè)器內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行掃描，得到能譜探測(cè)器內(nèi)部結(jié)構(gòu)的精確尺寸，并以此為基礎(chǔ)建立蒙特卡洛模型。利用

4、蒙特卡洛模型計(jì)算HPGe探測(cè)器與CdTe探測(cè)器的本征探測(cè)效率，得到探測(cè)效率的模擬曲線(xiàn)，以此確定選用何種探測(cè)器作為能譜探測(cè)器。3)利用標(biāo)準(zhǔn)點(diǎn)源對(duì)HPGe探測(cè)器進(jìn)行效率刻度，并計(jì)算出HPGe探測(cè)器的本征探測(cè)效率。將HPGe探測(cè)器實(shí)驗(yàn)測(cè)得本征探測(cè)效率與模擬本征探測(cè)效率相比較，計(jì)算相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差測(cè)器模型的準(zhǔn)確度。4)利用標(biāo)定好的HPGe探測(cè)器構(gòu)建能譜測(cè)量系統(tǒng)，測(cè)量鎢靶中能x射線(xiàn)治療水平規(guī)范下與重過(guò)濾規(guī)范下的脈沖高度能譜。5)利用高純鍺探測(cè)器測(cè)量鉬