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1、基于原子力顯微鏡以圖案化電荷標(biāo)記的聚合基于原子力顯微鏡以圖案化電荷標(biāo)記的聚合物薄膜弛豫性質(zhì)研究物薄膜弛豫性質(zhì)研究作者姓名作者姓名高迪高迪學(xué)校導(dǎo)師姓名、職稱學(xué)校導(dǎo)師姓名、職稱雷天民教授雷天民教授領(lǐng)域材料工程材料工程企業(yè)導(dǎo)師姓名、職稱企業(yè)導(dǎo)師姓名、職稱李留臣李留臣高工高工申請(qǐng)學(xué)位類別申請(qǐng)學(xué)位類別工程碩士工程碩士提交學(xué)位論文日期提交學(xué)位論文日期20142014年12月107011070112051222831205122283TN82TN82
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