水稻頂端穗退化tsr突變體的基因定位及候選基因的克隆.pdf

1、水稻頂端穗退化往往會導(dǎo)致禿尖現(xiàn)象的發(fā)生，因而帶來穗粒數(shù)減少，單株產(chǎn)量降低，低結(jié)實率，產(chǎn)量大幅下降。因此，引起了許多育種家的重視，但其遺傳基礎(chǔ)并不十分清晰。本實驗利用SSR和INDEL分子標記技術(shù)結(jié)合BSA分析法來對頂端小穗退化突變體tsr基因定位和候選基因的克隆。主要研究結(jié)果如下：
　　(1)tsr突變體穗頂部的穎花發(fā)育不完整，在成熟的后期這些發(fā)育不完整的穎花變干脫落，呈現(xiàn)形態(tài)上的禿穗。與原品種168比較，tsr突變體的株高較矮，

2、稻穗變小、粒數(shù)減少、結(jié)實率降低，且存在包頸現(xiàn)象。
　　(2)遺傳分析表明，該頂端小穗退化突變體受一對隱性核基因控制。
　　(3)將頂端小穗退化突變體與秈稻品種5364s雜交后自交的F2代作為定位群體。采用BSA和SSR分子標記相結(jié)合的方法將穗退化基因初步定位在第3號染色體短臂RM157A處。
　　(4)通過Indel引物的設(shè)計，最終將穗退化基因精細定位在兩個緊密連鎖的Indel分子標記hc42和hc58的67kb之間，