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1、統(tǒng)計(jì)過程控制(SPC)和工程過程控制(EPC)作為兩種減少波動(dòng)的過程控制方法,分別在零件工業(yè)和過程工業(yè)得到了成功的應(yīng)用。其中SPC主要利用控制圖來探測(cè)和消除特殊原因的波動(dòng),EPC基于反饋控制原理,通過調(diào)整過程可控變量,來補(bǔ)償過程輸出與過程目標(biāo)值的誤差。近年來,整合SPC與EPC對(duì)過程進(jìn)行監(jiān)測(cè)與調(diào)整,成為質(zhì)量控制領(lǐng)域研究的重點(diǎn)內(nèi)容之一。傳統(tǒng)上,在零件工業(yè),普遍使用SPC監(jiān)測(cè)過程,而對(duì)如何應(yīng)用過程調(diào)整來改進(jìn)質(zhì)量缺乏系統(tǒng)的研究。并且,當(dāng)過程輸
2、出數(shù)據(jù)自相關(guān)時(shí),會(huì)使傳統(tǒng)的控制圖變得毫無效果,而整合EPC與SPC為解決自相關(guān)過程監(jiān)測(cè)問題提供了一種新的途徑。 本文針對(duì)小批量短期生產(chǎn)經(jīng)常出現(xiàn)的由機(jī)器設(shè)置導(dǎo)致的過程初始誤差問題,引入Grubbs調(diào)和規(guī)則進(jìn)行調(diào)整,對(duì)普遍存在的過程自相關(guān)問題,利用整合MMSE調(diào)整和控制圖監(jiān)測(cè)過程。對(duì)解決這兩種問題的過程調(diào)整方法的性能進(jìn)行了分析和比較,系統(tǒng)研究了MMSE調(diào)整對(duì)過程均值偏移或漂移的影響和控制圖的性能。本文研究的主要(創(chuàng)新)內(nèi)容包括:
3、 1.評(píng)價(jià)和比較了來自于EPC與SPC領(lǐng)域的過程調(diào)整方法,其中包括可以消除數(shù)據(jù)自相關(guān)的MMSE調(diào)整、EWMA調(diào)整和減少過程設(shè)置誤差的Grubbs調(diào)和規(guī)則。本文首先對(duì)戴明的漏斗試驗(yàn)進(jìn)行了理論分析和仿真驗(yàn)證,以說明在現(xiàn)代制造環(huán)境下對(duì)過程調(diào)整的需要。對(duì)于AR(2)和IMA(1,1)過程,研究了受控過程的MMSE和EWMA的調(diào)整效應(yīng),對(duì)于AR(2)過程,研究了相關(guān)程度、λ的大小與波動(dòng)減少的關(guān)系,說明雖然優(yōu)化λ的取值可以得到最小的MSE,但E
4、WMA調(diào)整效應(yīng)依賴于過程數(shù)據(jù)的自相關(guān)。本文模擬數(shù)據(jù)驗(yàn)證了Grubbs調(diào)和規(guī)則的調(diào)整優(yōu)勢(shì),基于Kalman濾波估計(jì),分析了EWMA調(diào)整與Grubbs調(diào)和規(guī)則對(duì)于設(shè)置誤差調(diào)整的同一性,定義一個(gè)相對(duì)性能比率比較了EWMA調(diào)整和Grubbs調(diào)和規(guī)則的調(diào)整性能,在過程初始誤差較大時(shí),與EWMA調(diào)整相比,Grubbs調(diào)整優(yōu)于EWMA調(diào)整,在初始誤差較小時(shí),相對(duì)來說二者的差別不是很大。基于狀態(tài)空間模型從調(diào)整方法的背景、模型和方式三個(gè)方面比較了MMSE
5、調(diào)整與Grubbs調(diào)整的異同。 2.對(duì)AR(2)過程,系統(tǒng)研究了控制圖監(jiān)測(cè)MMSE調(diào)整輸出和輸入的性能。由于MMSE調(diào)整可以消除過程數(shù)據(jù)的自相關(guān),因此,整合MMSE和控制圖監(jiān)測(cè)自相關(guān)過程的均值變化是質(zhì)量改進(jìn)的一種有效方法。本文首先討論了直接應(yīng)用控制圖監(jiān)測(cè)AR(2)過程無效的原因,仿真模擬控制圖的ARL結(jié)果顯示,自相關(guān)對(duì)EWMA圖和CUSUM圖的監(jiān)測(cè)效果的影響大于休哈特圖。系統(tǒng)研究了MMSE調(diào)整的過程均值的偏移模式,利用信噪比、報(bào)
6、警概率和ARL,分析了控制圖的運(yùn)行長(zhǎng)度和過程均值偏移模式以及過程自相關(guān)的關(guān)系。利用仿真模擬給出了休哈特圖、EWMA圖和CUSUM圖的ARL模擬結(jié)果,結(jié)果顯示,對(duì)正相關(guān)程度較高的AR(2)過程,控制圖的性能在小、中量的均值偏移下變得很差。由此,本文提出聯(lián)合監(jiān)測(cè)輸出和輸入,通過對(duì)暫時(shí)和穩(wěn)定的信噪比以及仿真模擬的ARL分析比較發(fā)現(xiàn),監(jiān)測(cè)調(diào)整輸入和調(diào)整輸出具有互補(bǔ)的作用。 3.對(duì)IMA(1,1)過程,系統(tǒng)研究了控制圖監(jiān)測(cè)MMSE調(diào)整輸出
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