2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
已閱讀1頁,還剩2頁未讀, 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進行舉報或認領(lǐng)

文檔簡介

1、1光電檢測技術(shù)是用光學(xué),電子學(xué)原理和相關(guān)知識測量和檢驗光學(xué)和非光學(xué)量的技術(shù)2對準:又稱橫向?qū)?,是指一個目標與比較標志在垂直瞄準方向的重合或置中。調(diào)焦:縱向?qū)?,一個目標與比較標志在瞄準軸方向重合。調(diào)焦的主要目的是使物體成像清晰,確定物面或它的共軛像面位置。3光電對準可分為光電顯微鏡和光電望遠鏡兩大類,兩類儀器對標準的不確定度可達0.010.02μm和0.05″0.1″。光電對準按工作原理分光度式和相位式兩種。4星點檢驗基礎(chǔ):利用滿足線

2、性和空間不變性條件的系統(tǒng)的線性疊加特性,可以將任何物方圖樣分解為許多基元圖樣,基元對應(yīng)的像方圖樣容易知道,然后經(jīng)過線性疊加得出總圖樣,從而當(dāng)光學(xué)系統(tǒng)對非相干照明物體或自然發(fā)光物體成像時,可以把任意的物分布看成無數(shù)個具有不同強度,獨立的發(fā)光點的集合。發(fā)光點就是星點。5星點檢驗法:通過考察一個點光源經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)后在像面前,后不同截面上所成衍射像的光強分布,就可以定性的平評定光學(xué)系統(tǒng)自身的像差和缺陷的影響,定性的評價光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量。當(dāng)光孔是

3、圓孔則星點像是夫朗和斐型圓孔衍射。6星點檢測,衍射圖案的變形和在各衍射環(huán)之間光能量分布與理想情況下的差異能很靈敏的反映出光學(xué)系統(tǒng)或光學(xué)零件的缺陷。且在星點經(jīng)過理想光學(xué)系統(tǒng)所形成的衍射像中,像平面附近前后距離相同的平面上所看到的衍射圖案形狀也是相同的,也就是理想星點像在像面前后有對稱的光強分布,實際中,由于很小的像差或缺陷很容易破壞這種對稱,所以在檢測中要通過觀察實際像面前后衍射圖案的情況,進一步發(fā)下缺陷。7測量分辨率所獲得的有關(guān)被測系統(tǒng)

4、像質(zhì)的信息量雖然不及星點檢測多,發(fā)現(xiàn)像差和誤差的靈敏度也不如星點檢驗高,但分辨率能以確定的數(shù)值作為評價被測系統(tǒng)的像質(zhì)的綜合性指標,并且不需要具有豐富的實踐經(jīng)驗就能得到值!8激光多普勒測速技術(shù)具有很高的空間和時間分辨率,具有非接觸測量,不干擾測量對象,測量儀器可以遠離被測目標,在研究邊界層,湍流,兩相對流等特殊場合具有很大的技術(shù)優(yōu)勢。9激光進行遠距離的測量分為激光相位測距和脈沖激光測距。10激光干涉測試是以光波干涉原理為基礎(chǔ)。其測試靈敏度

5、和準確度高,大多數(shù)都是非接觸是,不會對被測器件表面損傷和附加誤差。由于現(xiàn)代激光器發(fā)展期量程范圍擴大,在精密測量,精密加工和實時測控中獲得廣泛應(yīng)用,按光波分光,激光干涉儀可分為分振幅式和分波陣面。按相干光束傳播路徑分為共程干涉和非共程干涉,按用途分為,靜態(tài)干涉和動態(tài)干涉。利用干涉圖的接收和數(shù)據(jù)處理技術(shù),計算出擴散函數(shù),中心點亮度,光學(xué)傳遞函數(shù)等綜合光學(xué)像質(zhì)評價指標。11在普通干涉之中,由于參考光束和測量光束沿著分開的光路進行,其受到機械振

6、蕩和溫度起伏影響不同,干涉條紋不穩(wěn)定所以不能進行精確測量的干涉儀為非共程干涉儀,反之為共程。12共程干涉儀特點:抗環(huán)境干擾,通常不需要尺寸等于或大于被測光學(xué)系統(tǒng)口徑的光學(xué)標準件,在視場中心的光束光程差為零,因而可以用白光光源。13共程干涉可分為兩類1使參考光束只通過被檢測光學(xué)系統(tǒng)的小部分區(qū)域,因而不受系統(tǒng)相差的影響,當(dāng)此參考光束和經(jīng)過該光學(xué)系統(tǒng)全孔徑的檢驗光束相干時,就可以直觀的獲得缺陷信息,像點衍射干涉儀2大多干涉儀中參考光束和測試光

7、束都受到像差的影響,干涉是由一支光束相對于另一只光束錯位產(chǎn)生的,這時得到的信息不是直觀的,需要計算機處理,像剪切干涉儀。14光學(xué)干涉儀測試技術(shù)最初在光學(xué)零件和光學(xué)系統(tǒng)的檢驗中獲得廣泛應(yīng)用,廣泛應(yīng)用的激光斐索型干涉測試技術(shù),在光學(xué)零件的面型,平行度,曲率半徑等的測量中其與在光學(xué)車間廣泛應(yīng)用的牛頓型干涉測量法相比屬于非接觸式。接觸式存在以下問題1標準樣板與被30莫爾形貌(等高線)測試是莫爾技術(shù)最重要的應(yīng)用領(lǐng)域之一,表面輪廓的莫爾測定法是通過

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論