簡-電法部分復(fù)習題及答案

1、1考試復(fù)習題：考試復(fù)習題：第二篇第二篇電法勘探電法勘探1、電法勘探的定義？電法勘探的定義？電法勘探是以巖、礦石之間電學性質(zhì)的差異為基礎(chǔ)，通過觀測和研究與這些差異有關(guān)的電場或電磁場在空間或時間上的分布特點和變化規(guī)律，來查明地下地質(zhì)構(gòu)造和尋找地下電性不均勻體(巖溶、風化層、滑坡體等)的一類勘查地球物理方法。一、電阻率法一、電阻率法1、影響巖土介質(zhì)電阻率的因素有哪些？怎樣影響？、影響巖土介質(zhì)電阻率的因素有哪些？怎樣影響？自然狀態(tài)下，巖土介質(zhì)的

2、電阻率除與介質(zhì)組分有關(guān)外，還與巖石的結(jié)構(gòu)、構(gòu)造、孔隙度、濕度、礦化度及溫度等因素有關(guān)。介質(zhì)組分：一般來說，當巖石中良導(dǎo)性礦物的體積含量高時，其電阻率通常較低。相反，當造巖礦物含量高時，巖石電阻率亦很高。結(jié)構(gòu)和構(gòu)造：在導(dǎo)電金屬礦物含量相同的條件下，巖石的結(jié)構(gòu)起著重要的作用。浸染狀結(jié)構(gòu)巖石中良導(dǎo)性礦物被不導(dǎo)電礦物包圍，其電阻率要比良導(dǎo)性礦物彼此相連的細脈狀結(jié)構(gòu)巖石為高。如對含針、片狀礦物，沿層理方向（縱向）電阻率小于垂直層理方向（橫向）電阻

3、率，兩個方向間存在各向異性。濕度：濕度對巖石的電阻率有很大的影響，這是因為水的電阻率較小，含水巖石的電阻率遠比干燥的巖石低。礦化度：礦化度越高，電阻率越低。溫度：溫度的變化直接影響著巖石的電阻率。這是因為，溫度升高時，一方面巖石中水溶液的粘滯性減小，使溶液中離子的遷移率增大。另一方面，又使溶液的溶解度增加，礦化度提高，所以巖石的電阻率通常隨溫度的升高而下降。2、縱向電導(dǎo)和橫向電阻的含義及其公式表述形式？、縱向電導(dǎo)和橫向電阻的含義及其公式

4、表述形式？為了研究層狀介質(zhì)的導(dǎo)電特性，我們在層狀介質(zhì)中取底面積為l、厚度為的六面2mh巖柱體。水平均勻?qū)訝罱橘|(zhì)模型當電流垂直于柱體底面流過時，所測得的電阻稱為橫向電阻，用符號表示。顯然，T第i層的橫向電阻等于該電性層的厚度與電阻率的乘積，即：iiihT??當六面巖柱體由厚度和電性不同的個巖層組成時，按串聯(lián)電路原理，其總橫向電1?n阻為：3所以，。這樣，地表觀測視電阻率的變化，便可揭示地下電性不均勻地MNj0js?MN?質(zhì)體的存在與分布，

5、這就是電阻率法能夠解決有關(guān)地質(zhì)問題的基本物理依據(jù)。應(yīng)用該公式時，有一個表土電性均勻的假設(shè)，即沿著測線移動變化很小，否則將既取決于MN?s?的變化，也取決于的變化，無法判斷視電阻率的變化到底是地表電性不均勻體引MN?MNj起的，還是地下電性不均勻體引起的。8、在非均勻介質(zhì)中電流場具有什么特點？實質(zhì)是什么？、在非均勻介質(zhì)中電流場具有什么特點？實質(zhì)是什么？在非均勻介質(zhì)中，電流線在不同介質(zhì)的分界面會發(fā)生折射?？傮w上表現(xiàn)為：低阻體吸引電流線，致使

6、大部分電流從它的內(nèi)部流過；高阻體排斥電流線，致使電流線大部分從圍巖流過。介質(zhì)中的電流總是按照所遇阻力最小的路徑流動，或者說總是自動地滿足電場做功最小的狀態(tài)。非均勻介質(zhì)中的穩(wěn)定電流場實質(zhì)上可以看成是由場源和界面上的積累電荷產(chǎn)生的。界面上積累電荷的密度與場源強度及界面兩側(cè)的電阻率差異成正比。吸引或排斥均為界面上積累電荷的作用。當電流由低阻體進入高阻體時，界面上積累正電荷，與場源同符號。按同性相斥的原理，高阻體對來自場源的電流線起排斥作用。反

7、之，若電流由高阻體進入低阻體時，界面上積累負電荷，與場源反號，按異性相吸的道理，低阻體對場源發(fā)出的電流線起吸引作用。9、研究電流密度隨深度的分布規(guī)律有怎樣的意義？影響探測深度的主要因素是什么？、研究電流密度隨深度的分布規(guī)律有怎樣的意義？影響探測深度的主要因素是什么？勘探深度是指在給定裝置條件下能產(chǎn)生可靠相對異常、可查明探側(cè)目標的最大深度。研究電流密度隨深度的變化規(guī)律，對電阻率法勘探有很大意義。因為，地面電阻率法是根據(jù)地表電流密度的變化來

8、判斷地下電阻率有明顯差異的地質(zhì)體的存在。集中于地表的電流越多，流入地下深處的電流就越少。當埋藏于深部的巖石中的電流密度很小時，巖石電阻率的差異對地表附近電流密度的影響很小，因而能夠進行勘探的深度也就小了。要想增大勘探深度、只有增加供電極距。AB越大，勘探深度也越大。1010、電阻率剖面法的總體特征是什么？有哪些分類？、電阻率剖面法的總體特征是什么？有哪些分類？總體特征：供電極距不變，整個裝置沿觀測剖面線移動，逐點觀測視電阻率的變化。根據(jù)

9、勘探深度和供電極距的關(guān)系，由于供電極距不變，勘探深度就保持在同一個范圍內(nèi)。因此電阻率剖面法研究的是某個深度范圍以上橫向上電阻率的分布情況。主要可分為：聯(lián)合剖面法，適用于探測陡傾的低阻體；（復(fù)合）對稱四級剖面法，適用于面積性測量；中間梯度法，適用于探測陡傾的高阻體；偶極剖面法等。1111、聯(lián)系“聯(lián)合剖面法”方法的命名說明“聯(lián)合剖面法”的總體特征及主要適用范圍？、聯(lián)系“聯(lián)合剖面法”方法的命名說明“聯(lián)合剖面法”的總體特征及主要適用范圍？總體特

10、征：聯(lián)合剖面法是用兩組三極裝置進行測量，這是“聯(lián)合”一詞的由來。每組三極裝置有一個無窮遠極。在同一測點上，兩組三極裝置各測一次。在低阻體上方有正交點存在，在高阻體上方有反交點存在。優(yōu)點：靈敏度高、分辨力強、異常幅度大。缺點：該測量方式工作效率低，因為一點測量兩次，裝置比較笨重，有笨重的無窮遠極存在。受地形和地表巖性不均勻的影響大，易使曲線發(fā)生畸變而出現(xiàn)假異常。適用范圍：主要用于尋找產(chǎn)狀陡傾的層狀或脈狀低阻體或斷裂破碎帶。1212、聯(lián)系“

11、中間梯度法”方法的命名說明“中間梯度法”的總體特征及主要適用范圍？、聯(lián)系“中間梯度法”方法的命名說明“中間梯度法”的總體特征及主要適用范圍？這種方法的特點是供電電極A和B相距很遠且固定不動，測量電極M和N在A、B之間的中部約(1213)AB的范圍內(nèi)同時移動，逐點進行測量。此外，MN還可以在平行于主剖面線AB的幾條相鄰測線中部移動，逐點進行測量。旁測線與主測線的最大垂直距離不超過16AB。由于中間梯度法布設(shè)一次供電電極可同時觀測數(shù)條測線，