有效期驗證報告(有源體外診斷分析儀)

1、有效期驗證報告目的：為了驗證全自動XXXXX儀的可靠性，確定其安全有效的使用期限，保證使用者的安全和臨床應(yīng)用中檢測的準確性。驗證時間：2014811~2014925驗證人員：XXX儀器設(shè)備：環(huán)境試驗箱1、概述概述壽命試驗是基本的可靠性試驗方法，在正常工作條件下，常常采用壽命試驗方法去評估產(chǎn)品的各種可靠性特征。但是這種方法對壽命特別長的產(chǎn)品來說，不是一種合適的方法。因為它需要花費很長的試驗時間，甚至來不及作完壽命試驗，新的產(chǎn)品又設(shè)計出來，

2、老產(chǎn)品就要被淘汰了。因此，在壽命試驗的基礎(chǔ)上形成的加大應(yīng)力、縮短時間的加速壽命試驗方法逐漸取代了常規(guī)的壽命試驗方法。加速壽命試驗是用加大試驗應(yīng)力(諸如熱應(yīng)力、電應(yīng)力、機械應(yīng)力等)的方法，激發(fā)產(chǎn)品在短時間內(nèi)產(chǎn)生跟正常應(yīng)力水平下相同的失效，縮短試驗周期。然后運用加速壽命模型，評估產(chǎn)品在正常工作應(yīng)力下的可靠性特征。加速環(huán)境試驗是近年來快速發(fā)展的一項可靠性試驗技術(shù)。該技術(shù)突破了傳統(tǒng)可靠性試驗的技術(shù)思路，將激發(fā)的試驗機制引入到可靠性試驗，可以大大

3、縮短試驗時間，提高試驗效率，降低試驗耗損。22、常見的物理模型常見的物理模型元器件的壽命與應(yīng)力之間的關(guān)系，通常是以一定的物理模型為依據(jù)的，下面簡單介紹一下常用的幾個物理模型。2.1失效率模型失效率模型是將失效率曲線劃分為早期失效、隨機失效和磨損失效三個階段，并將每個階段的產(chǎn)品失效機理與其失效率相聯(lián)系起來，形成浴盆曲線。該模型的主要應(yīng)用表現(xiàn)為通過環(huán)境應(yīng)力篩選試驗，剔除早期失效的產(chǎn)品，提高出廠產(chǎn)品的可靠性。2.1失效率模型圖示：加速環(huán)境試驗

4、是一種激發(fā)試驗，它通過強化的應(yīng)力環(huán)境來進行可靠性試驗。加速環(huán)境試驗的加速水平通常用加速因子來表示。加速因子的含義是指設(shè)備在正常工作應(yīng)力下的壽命與在加速環(huán)境下的壽命之比，通俗來講就是指一小時試驗相當于正常使用的時間。因此，加速因子的計算成為加速壽命試驗的核心問題，也成為客戶最為關(guān)心的問題。加速因子的計算也是基于一定的物理模型的，因此下面分別說明常用應(yīng)力的加速因子的計算方法。3.1溫度加速因子溫度的加速因子由Arrhenius模型計算：其中

5、，Lnmal為正常應(yīng)力下的壽命，Lstress為高溫下的壽命，Tnmal為室溫絕對溫度，Tstress為高溫下的絕對溫度，Ea為失效反應(yīng)的活化能（eV），k為Boltzmann常數(shù)，8.6210－5eVK，實踐表明絕大多數(shù)電子元器件的失效符合Arrhenius模型，表1給出了半導體元器件常見的失效反應(yīng)的活化能。表1半導體元器件常見失效類型的活化能設(shè)備名稱設(shè)備名稱失效類型失效類型失效機理失效機理活化能（活化能（eVeV）IC斷開AuAl金