面向新型阻變單元的脈沖測量系統(tǒng)設(shè)計.pdf

1、隨著半導體制造工藝的進步與革新，以及消費電子產(chǎn)品對低功耗的要求進一步提高，F(xiàn)lash存儲器無論是在存取速度和制作體積上，越來越不能滿足當前的需求，新型阻變存儲器應運而生。其結(jié)構(gòu)簡單、訪問速度快的優(yōu)勢更加凸顯。但存在編程/擦除不成功、耐受性差等可靠性問題，對測試設(shè)備的測試精度和速度提出了很高的要求。
　　目前商用的測試模塊主要存在兩個問題:速度快精度差或速度慢精度高，均不能很好滿足測試需求。并且這種商用的測試模塊所配置的上位機軟件也

2、存在界面不夠友好和不能深度定制驅(qū)動波形等缺點，大大降低了測試的效率。
　　基于以上現(xiàn)狀，本文以設(shè)計快速、靈活、可靠的阻變存儲單元測試系統(tǒng)為目的，設(shè)計并實現(xiàn)阻變存儲器測試系統(tǒng)，主要工作包括:
　　1、通過需求分析，電路原理設(shè)計，軟件仿真驗證，原理圖生成，PCB制作的過程完成系統(tǒng)硬件電路，使其具有可變驅(qū)動波形的發(fā)生和返回信號的高速高精度測量的功能，達到輸出脈沖模式下脈沖寬度100ns～1ms可調(diào)，幅度±5V可調(diào);直流模式下-5V